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Test Driven Development for Embedded C

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James W. Grenning 作者
Pragmatic Bookshelf
譯者
2011-5-2 出版日期
310 頁數
USD 34.95 價格
Paperback
叢書系列
9781934356623 圖書編碼

Test Driven Development for Embedded C 在線電子書 圖書標籤: TDD  C  嵌入式  程序設計  測試驅動開發  Programming  編程  敏捷開發   


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發表於2024-11-14

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Test Driven Development for Embedded C 在線電子書 用戶評價

評分

用C也可以做很好的設計和接口.C++的高級特性大部分時候並不必要。

評分

不錯 兼容TDD 和 嵌入式

評分

用C也可以做很好的設計和接口.C++的高級特性大部分時候並不必要。

評分

不錯 兼容TDD 和 嵌入式

評分

非常棒的一般關於嵌入式C語言開發者如何利用TDD來提高代碼質量的一般書,推薦每一個從事嵌入式編程的開發者仔細閱讀。

Test Driven Development for Embedded C 在線電子書 著者簡介

James Grenning trains, coaches, and consults worldwide. His considerable experience brings depth in both technical and business aspects of software development. James is leading the way to introduce Agile development practices to the embedded world. He invented Planning Poker and is one of the original authors of the Manifesto for Agile Software Development, February 2001.


Test Driven Development for Embedded C 在線電子書 著者簡介


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Test Driven Development for Embedded C 在線電子書 圖書描述

Did you write C code last week? Does your code work? Is your design clean? If you answered yes to the first question but got queasy over the second two, you need to know about Test Driven Development. TDD helps you write code that works the first time, and then helps you keep it running as the code evolves to meet new needs.

In Test Driven Development for Embedded C, author James W. Grenning shows embedded software developers how to bring the benefits of TDD to embedded C.

In the book, you'll see how to apply TDD to C and the world of embedded software development. Learn how to break key dependencies, allowing code to be tested thoroughly. Explore how to test-drive your product's core logic, exploiting the power of your development environment to deliver better software.

In fact, as the book shows, you can test-drive a device driver before you even have the device soldered into a circuit board. Avoid the natural delays when testing on the target by using the tailored TDD Microcycle, employing off-target tests and dual-targeted code.

Learn how to make code testable and more flexible, better able to handle the inevitable changes demanded by the market. The tests drive development and then serve as an executable specification, keeping track of the critical details and assumptions baked into the code.

In Test Driven Development for Embedded C, you'll find that TDD is a different way to program-unit tests are written in a tight feedback loop with the production code, producing testable code and greatly reducing wasteful debugging. TDD also influences design. When tests are considered part of design, you create modular and loosely coupled code, the hallmarks of a good design.

With Test Driven Development for Embedded C, C developers-even embedded C developers-can finally write cleaner, testable code with TDD.

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Test Driven Development for Embedded C 在線電子書 讀後感

評分

部分1 第一章 基本思想,增量式开发,先根据接口写测试代码(结对测试?一个人写测试代码,或者都是自己写),自动化执行(使得可复用), 并遵循“微循环”的模式 第二章 工具介绍 run_test_case = test_setup+test+test_teardown <运行make -i -f MakefileUnity.mk...

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部分1 第一章 基本思想,增量式开发,先根据接口写测试代码(结对测试?一个人写测试代码,或者都是自己写),自动化执行(使得可复用), 并遵循“微循环”的模式 第二章 工具介绍 run_test_case = test_setup+test+test_teardown <运行make -i -f MakefileUnity.mk...

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部分1 第一章 基本思想,增量式开发,先根据接口写测试代码(结对测试?一个人写测试代码,或者都是自己写),自动化执行(使得可复用), 并遵循“微循环”的模式 第二章 工具介绍 run_test_case = test_setup+test+test_teardown <运行make -i -f MakefileUnity.mk...

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部分1 第一章 基本思想,增量式开发,先根据接口写测试代码(结对测试?一个人写测试代码,或者都是自己写),自动化执行(使得可复用), 并遵循“微循环”的模式 第二章 工具介绍 run_test_case = test_setup+test+test_teardown <运行make -i -f MakefileUnity.mk...

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部分1 第一章 基本思想,增量式开发,先根据接口写测试代码(结对测试?一个人写测试代码,或者都是自己写),自动化执行(使得可复用), 并遵循“微循环”的模式 第二章 工具介绍 run_test_case = test_setup+test+test_teardown <运行make -i -f MakefileUnity.mk...

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