怎样用万用电表检测电子元器件 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

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出版者:人民邮电出版社

作者:郑浩

出品人:

页数:330

译者:

出版时间:2005-6

价格:16.00元

装帧:平装

isbn号码:9787115124098

丛书系列:

图书标签:

• 万用表
• 电子元器件
• 检测
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• 教程

《元器件判读与检修实用指南》 本书旨在为电子爱好者、技术人员以及初学者提供一套系统、实用的电子元器件判读与检修方法。我们将深入浅出地解析各种常用电子元器件的原理、特性以及在电路中的应用，并结合大量实际案例，详细阐述如何通过观察、测量和分析来准确判断元器件的好坏，从而高效地解决电路故障。 本书核心内容概览： 第一章：电子元器件基础知识 电阻器： 详细介绍各种电阻器（碳膜、金属膜、氧化膜、线绕、贴片等）的结构、工作原理、阻值标注方法（色环、数字、代码）、功率、精度、容差等关键参数。讲解电阻器的选用原则以及在电路中的作用，如限流、分压、电流采样等。 电容器： 涵盖了电解电容、陶瓷电容、钽电容、薄膜电容、云母电容等多种常见电容器的结构、工作原理、容量标注方法（色环、数字、代码）、耐压、漏电流、等效串联电阻（ESR）、等效串联电感（ESL）等重要参数。深入探讨电容器在电路中的功能，如滤波、耦合、储能、调谐等。 电感器： 介绍电感器的基本原理、线圈的结构（空心、磁芯）、感量标注方法（色环、数字、代码）、额定电流、直流电阻等参数。分析电感器在电路中的应用，如滤波、振荡、变压、储能等。 二极管： 详细介绍二极管的基本 PN 结原理、特性曲线，以及各种类型二极管（普通二极管、稳压二极管、快恢复二极管、肖特基二极管、发光二极管、光电二极管等）的结构、特性、参数（正向压降、反向击穿电压、反向漏电流）和应用。 三极管（晶体管）： 深入解析 NPN 和 PNP 型三极管的结构、工作原理（放大、开关）、基本参数（电流放大系数β、截止电压、饱和电压、集电极最大允许电流、集电极最大允许电压）以及不同类型的应用（如 BJT、MOSFET）。 场效应管（FET）： 讲解 JFET 和 MOSFET 的结构、工作原理、栅极控制原理、跨导、阈值电压、导通电阻等关键参数，以及它们在放大和开关电路中的优势。 集成电路（IC）： 概述集成电路的基本概念，介绍常见的模拟集成电路（运放、比较器、稳压器）和数字集成电路（逻辑门、计数器、微处理器）的分类、功能和基本工作原理。 第二章：电子元器件的识别与判读 直接观察法： 学习如何通过观察元器件的外观、标识、颜色、形状、引脚等来初步判断其类型和规格。例如，识别不同颜色的电容、带数字标识的电阻、有字母前缀的IC等。 常用标记解读： 详细讲解电阻、电容、电感、二极管、三极管等元器件上常见的色环、数字代码、字母代码、日期代码、批次代码等的含义和解读方法。 电路图符号辨识： 掌握各种电子元器件在电路图中的标准符号，以及如何根据符号快速识别电路中的元器件类型。 封装类型认知： 学习识别常见的电子元器件封装类型，如 DIP、SOP、QFP、BGA、TO-220、DO-41 等，了解不同封装对安装和散热的影响。 第三章：电子元器件的性能测试方法 基础测试工具介绍： 详细介绍万用表（数字式和指针式）、示波器、信号发生器、LCR 表等常用电子测试设备的基本功能、操作方法和注意事项。 电阻测量技巧： 讲解如何使用万用表准确测量电阻值，包括选择合适的量程、判断电阻器的损坏（开路、短路、阻值漂移），以及测量特殊电阻（如热敏电阻、压敏电阻）。 电容特性检测： 重点讲解如何使用万用表、LCR 表或示波器来检测电容器的容量、耐压、漏电流、ESR 等关键参数，判断电容是否漏液、鼓包、容量衰减或失效。 电感性能测试： 介绍如何测量电感器的感量、直流电阻，以及如何判断电感器是否存在开路、短路或磁芯损坏。 二极管功能验证： 演示如何使用万用表检测二极管的正反向导通压降、反向漏电流，以及识别二极管的损坏（击穿、短路、开路）。 三极管（BJT/FET）参数测量： 详细介绍如何使用万用表或晶体管测试仪测量三极管的电流放大系数（β）、穿透电流、饱和电压等参数，判断三极管的放大或开关性能。 集成电路（IC）基本判别： 介绍如何通过观察IC的外观、引脚是否有烧蚀或损坏，以及通过简单的功能测试（如供电电压、关键引脚信号）来初步判断IC是否损坏。 第四章：常见电子元器件的故障分析与维修实例 电源电路中的元器件故障： 分析滤波电容失效、稳压二极管击穿、整流二极管损坏、功率三极管过热导致故障的常见原因及检修方法。 信号处理电路中的元器件问题： 讲解耦合电容漏电、反馈电阻值漂移、振荡电路电感/电容参数异常对电路功能的影响，并提供相应的维修思路。 开关控制电路中的元器件失效： 分析光耦损坏、继电器触点粘连、MOSFET 驱动异常导致的开关失灵或误动作。 保护电路中的元器件故障： 讨论保险丝熔断、压敏电阻击穿、TVS 管失效对电路保护功能的阻碍。 实际维修案例解析： 结合电视机、收音机、电源适配器、遥控器等常见电子产品的维修实践，通过图文并茂的方式，展示如何运用本书所学的知识和技巧，一步步定位并更换损坏的电子元器件，成功修复故障。 第五章：元器件选配与电路板维修注意事项 元器件的兼容性与代换： 讲解在更换损坏元器件时，如何选择参数相近或功能兼容的代换件，以及需要注意的参数差异（如耐压、电流、频率、封装）。 焊接与拆卸技巧： 提供正确的电子元器件焊接与拆卸方法，避免对电路板和周围元器件造成二次损伤，特别强调对易损元器件（如贴片元件、IC）的保护。 静电防护： 强调电子元器件，特别是集成电路和场效应管的静电敏感性，介绍必要的静电防护措施。 安全操作规范： 提醒读者在进行电路检修时，务必注意用电安全，断开电源，防止触电。 本书语言通俗易懂，配有大量清晰的图表和实物照片，力求将复杂的电子元器件知识和维修技巧化繁为简，帮助读者快速掌握电子元器件的判读与检修能力，为深入学习电子技术打下坚实的基础。无论您是刚刚接触电子领域的新手，还是希望提升维修技能的实践者，都能从本书中获得有益的指导和启发。

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这本书的封面设计得相当朴实，拿在手里沉甸甸的，一看就知道内容很扎实。我本来对电子元器件的检测一直处于“似懂非懂”的状态，尤其是一些比较冷门的元件，总觉得心里没底。读完这本书后，最大的感受就是茅塞顿开。它没有过多地纠缠于晦涩难懂的理论公式，而是紧紧围绕着“实操”展开。作者的讲解方式非常接地气，每一步操作都配有清晰的图示和详细的文字说明，仿佛手把手带着你一起在实验台上操作一样。比如，书中关于晶体管的判别和测量，讲解得细致入微，从最基础的判断PN结到区分NPN和PNP，再到测量放大系数，每一步的注意事项都被标注得清清楚楚。以前我总是担心测错元件导致电路板烧毁，现在读完这本书，心里踏实多了，感觉自己真的掌握了一套系统的检测方法论，而不是零散的技巧。这种从基础到进阶，层层递进的编排，让即便是初学者也能很快跟上节奏。

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这本书的装帧质量虽然算不上豪华，但其内容的实用价值绝对是物超所值。我最欣赏的是作者在处理一些“疑难杂症”时的专业态度。电子维修中，最怕的就是那种模棱两可的情况，元件参数在正常范围边缘徘徊。这本书在这方面提供了非常宝贵的参考经验。它不像其他书籍那样只给出一个理想值，而是给出了一系列的“容许误差范围”和“常见老化表现”。例如，在检测一些老化严重的电解电容时，书中提示除了看漏液和鼓包，更重要的是要关注其ESR值（虽然这通常需要更专业的LCR表，但书中提供了如何用万用表粗略判断的技巧）。这种基于实践经验的总结，对于一线维修人员或者高要求的爱好者来说，简直是救命稻草。读完之后，我感觉自己对“好”与“坏”的界限划分清晰了许多，减少了误判和替换不必要元件的情况。

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这本书的行文风格非常严谨，几乎没有冗余的描述，每一句话都像是经过了仔细斟酌才写下的。我个人比较注重阅读体验，这本书的排版布局也值得称赞。关键的测量步骤和需要特别注意的安全事项，都采用了不同的字体或加粗处理，使得重点突出，查阅起来非常方便。我曾经在深夜维修时，需要快速回顾某个特定元件的检测流程，这本书的结构化编排帮了我大忙。它更像是一本高规格的工具手册，而不是一本纯粹的科普读物。特别是书中对各种测量档位切换时，对电表内部电路变化所导致的读数延迟或瞬时波动现象的解释，非常到位，解决了困扰我多年的一个技术细节。总而言之，这是一本能让你从“会用万用表”跃升到“精通用万用表”的实用宝典。

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坦率地说，我购买这本书之前是抱着很大期望的，毕竟书名承诺了“万用”。实际阅读后，感觉作者对基础知识的铺陈非常到位，但我想强调的是，这本书在拓展读者视野方面的贡献。它并没有止步于传统的电阻、电容、二极管的测量，而是花了不少篇幅讲解了如何利用万用表辅助诊断一些集成电路（IC）的工作状态，比如通过测量供电轨的电压稳定性和引脚对地的阻抗来初步判断芯片是否损坏。虽然万用表本身不是诊断复杂逻辑电路的终极工具，但作者巧妙地利用了它的基础功能，教我们在没有示波器的情况下，如何进行第一道防线般的排查。这极大地拓宽了我的维修思路，让我意识到万用表远比我之前想象的要“万能”得多，关键在于使用者的思维深度和对电路原理的理解程度。

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我是一名电子爱好者，自学为主，市面上关于万用表的书籍汗牛充栋，但很多要么是过于侧重于理论介绍万用表的工作原理，要么就是简单地罗列几个测量项目，缺乏系统性和深度。这本书的优势在于，它真正做到了“教人捕鱼”。它不仅仅教你如何去看万用表的刻度和旋钮位置，更深入地剖析了在不同元件特性下，万用表读数背后的物理意义。比如在测量电感和电容时，书中不仅仅是简单地告诉你调到哪个档位，而是结合了RC或RL电路的知识点，让你明白为什么在特定频率下会读出那个数值，以及这个数值的偏差意味着什么元件缺陷。这种深入浅出的讲解，极大地提升了我对元器件“健康状况”的判断力。特别是书中对一些老旧或非标准封装元件的检测案例分析，非常实用，这些内容在很多新出版的教材里是找不到的。它真正帮你建立了“用工具理解元件”的思维框架。

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