电子隧穿原理

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出版者:科学出版社
作者:舒启清
出品人:
页数:0
译者:
出版时间:1998-07-01
价格:13.0
装帧:
isbn号码:9787030063946
丛书系列:
图书标签:
  • 1
  • 电子物理
  • 量子力学
  • 固体物理
  • 纳米技术
  • 半导体
  • 电子器件
  • 物理学
  • 材料科学
  • 隧穿效应
  • 微电子学
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具体描述

本书全面记述了量子力学中的电子隧穿势垒效应研究工作的发展过程,介绍了电子隧穿的基本理论以及在各种隧道结中的具体处理方法、实验结果和应用。本书力求反映近年来电子隧穿研究工作的最新进展。

本书可供物理学、化学和生物学等专业大学高年级学生、研究生和科研工作者使用。

作者简介

目录信息

前言
第一章导论
1.1隧穿的概念
1.2隧穿的虫期应用
1.3隧道谱学的产生和发展
参考文献
第二章基本理论
2.1稳态法
2.2转移哈密顿法
2.3一维矩形势垒
2.4共振遂穿
2.5稳态法与转移哈密顿法等效
2.6WKB近似法
参考文献
第三章正常态隧道结隧穿
3.1引言
3.2金属-绝缘层-金属结
3.2.1IV特性
3.2.2镜象力效应
3.3金属-
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