本书介绍了高分辨电子显微方法的原理，解释了像的衬度与原子排列的对应关系，给出了像计算的具体步骤；叙述了高分辨电子显微像的种类及其具体的拍摄方法；强调了获得最佳拍摄条件的重要性，讨论了最佳条件拍摄的注意事项以及试样厚度和离焦量等对象衬度的影响。本书用较大的篇幅介绍了该方法在材料评价中的应用，叙述的重点是各种晶格缺陷和每种材料的结构特征，介绍了它们观察方法和对象的解释。作为相关技术，本书叙述了图像处理，以及采用新的记录载体进行了定量解析。另外，对电子衍射和弱束方法，以及用于高分辨电子显微方法的各种试样制备技术做了概述。
本书可供电子显微学工作者、材料研究人员和大专院校有关专业的师生阅读参考。
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