本書介紹瞭高分辨電子顯微方法的原理,解釋瞭像的襯度與原子排列的對應關係,給齣瞭像計算的具體步驟;敘述瞭高分辨電子顯微像的種類及其具體的拍攝方法;強調瞭獲得最佳拍攝條件的重要性,討論瞭最佳條件拍攝的注意事項以及試樣厚度和離焦量等對象襯度的影響。本書用較大的篇幅介紹瞭該方法在材料評價中的應用,敘述的重點是各種晶格缺陷和每種材料的結構特徵,介紹瞭它們觀察方法和對象的解釋。作為相關技術,本書敘述瞭圖像處理,以及采用新的記錄載體進行瞭定量解析。另外,對電子衍射和弱束方法,以及用於高分辨電子顯微方法的各種試樣製備技術做瞭概述。
本書可供電子顯微學工作者、材料研究人員和大專院校有關專業的師生閱讀參考。
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