電子係統測試原理 在線電子書 圖書標籤: 計算機 電子工程
發表於2024-11-27
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SOC Test IC
評分SOC Test IC
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本書全麵闡述瞭電子係統測試原理,共分為五個部分,第1部分介紹本書的目的、電子産品的缺陷種類、VLSI設計錶示與設計流程;第H部分介紹故障模擬、測試碼産生及電流測試方法;第111部分討論易測性設計問題,分彆介紹專用技術、路徑掃描設計、邊界掃描測試和內建自測試技術;第1V部分介紹特殊結構的測試,包括存儲器、FPGA和微處理器的測試;第 V部分涉及當前電子係統測試領域中的前沿問題,包括如何實現易測試性結構和進行SOC測試。.
本書可作為電子信息類專業研究生教材和IC測試工程技術人員的參考書。
隨著電子技術的不斷發展,電子係統測試麵臨越來越大的挑戰:研究更精確的故障模型,在高層設計上檢查易測試性,在綜閤過程中嵌入更有效的測試結構等。本書詳細介紹瞭測試的基本原理和很多必需的基礎知識,來麵對這些挑戰。..
本書涉及開發可靠電子産品的非常實用的設計和測試知識,講解設計驗證的主要手段,有助於測試的設計檢查;研究瞭如何將測試應用於隨機邏輯。存儲器, FPGA和微處理器。最後,提供瞭針對深亞微型設計的高級測試解決方案。讀者可以通過本書深入理解測試的基本原理,並掌握眾多解決方案。本書的主要內容包括:
●解釋瞭測試在設計中的作用。
●詳細討論瞭掃描路徑和掃描鏈的次序。
●針對嵌入式邏輯和存儲器塊的BIST解決方案。
●針對FPGA的測試方法。
●芯片係統的測試。
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