Spectroscopic Ellipsometry pdf epub mobi txt 电子书下载 2026

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☆☆☆☆☆

出版者:Momentum Press

作者:H. G. Tompkins

出品人:

页数:150

译者:

出版时间:2016-12-16

价格:USD 49.95

装帧:精装

isbn号码:9781606507278

丛书系列:

图书标签:

Tompkins
Spectroscopy
Optical
Ellipsometry
Spectroscopic Ellipsometry
Ellipsometry
Thin Films
Materials Science
Optics
Surface Analysis
Characterization
Nanotechnology
Semiconductors
Optical Properties

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具体描述

Ellipsometry is an experimental technique for determining the thickness and optical properties of thin films. It is ideally suited for films ranging in thickness from sub-nanometer to several microns. Spectroscopic measurements have greatly expanded the capabilities of this technique and introduced its use into all areas where thin films are found: semiconductor devices, flat panel and mobile displays, optical coating stacks, biological and medical coatings, protective layers, and more. While several scholarly books exist on the topic, this book provides a good introduction to the basic theory of the technique and its common applications. The target audience is not the ellipsometry scholar, but process engineers and students of materials science who are experts in their own fields and wish to use ellipsometry to measure thin film properties without becoming an expert in ellipsometry itself.

好的，这是一本名为《Spectroscopic Ellipsometry》的图书简介，内容不包含该书的任何主题。 --- 图书简介：《地球深部物质的极端条件研究》导言：探寻地心世界的奥秘地球，这颗我们赖以生存的蓝色星球，其表面生机盎然，但其内部却是一个充满极端物理化学条件的神秘世界。从地壳到地核，物质在数百万倍于海平面的压力和数千摄氏度的高温下呈现出我们日常生活中难以想象的状态。理解这些深部物质的性质，不仅是理解地球形成、演化和板块构造等宏观地质过程的关键，也是构建行星科学模型、探索系外行星内部结构的重要参照。《地球深部物质的极端条件研究》是一部深入探讨地球内部高压高温物理学和地球化学的综合性专著。本书聚焦于实验室模拟、理论计算以及地球物理观测数据相结合的方法论，旨在揭示在地幔和地核深处，物质如何改变其晶体结构、相态、力学响应及输运性质。本书面向地球物理学、材料科学、高压物理、矿物学及行星科学领域的研究人员、高年级本科生和研究生，提供了一个全面而前沿的视角。第一部分：极端条件的实验室模拟与高压技术理解深部地球，首先需要重现其环境。本书的第一部分详细阐述了实现极端高压和高温所需的尖端实验技术。第一章：金刚石对顶砧（DAC）技术及其衍生应用本章深入剖析了金刚石对顶砧（Diamond Anvil Cell, DAC）技术的核心原理、结构设计和操作流程。重点讨论了如何利用微小的样品体积，精确地施加高达数百吉帕斯卡的压力。内容涵盖了激光加热技术在DAC中的应用，用于模拟地幔过渡带和下地幔的温度条件。此外，还详细介绍了先进的样品封装技术、压力标定方法（如基于红宝石荧光或X射线衍射的标定），以及在原位（in-situ）进行光谱学或衍射实验的集成方案。对不同类型DAC（如双面加热DAC、旋转式DAC）的优缺点和适用范围进行了对比分析。第二章：高温高压炉与大体积 Pressing Systems 与DAC的微小样品体积形成对比，本章侧重于大体积高压设备，如高温高压扭に変更（Multi-anvil Apparatus, MAA）和柱塞-筒系统（Piston-Cylinder Apparatus）。详细阐述了这些设备在制备和研究地球深部矿物合成物方面的优势，尤其是在获取宏观样品以进行力学测试和精确物性测量方面的作用。讨论了温度梯度控制、反应气氛控制（如使用石墨或铂套管）以及长时间实验的稳定性问题。第二部分：高压下物质的结构相变与晶体化学地球内部的物理性质，如地震波速、密度和弹性，直接由物质的晶体结构和化学组成决定。本部分聚焦于高压如何诱发物质发生重大的结构重排。第三章：地幔矿物的压力诱导相变本书系统梳理了橄榄石、辉石、石榴石等主要地幔矿物在高压下的相变序列。重点分析了从橄榄石到尖晶石结构（如布里奇曼石，Bridgmanite）的转变，以及在下地幔过渡带（约410-660 km）可能存在的复杂结构，如后尖晶石相（Post-spinel phase）。通过X射线衍射数据的解析，揭示了这些相变的体积变化、位错机制以及对地震波各向异性的影响。第四章：水、碳与硫在深部地壳和地幔中的行为深部水、碳和硫的循环是控制地球深部地球化学过程和岩浆活动的关键因素。本章探讨了在极高压力下，水如何以含水矿物（如羟基相）的形式溶解在地幔硅酸盐晶格中，以及高压冰相（如Ice VII, Ice X）的稳定性范围。对于碳，重点分析了在高压下碳酸盐和单质碳（如类金刚石相）的形成条件。此外，还探讨了硫化物在核幔边界附近可能扮演的角色。第三部分：极端条件下的动力学与输运性质物质的宏观行为，如地幔对流、热演化和磁场发电机，都依赖于深部物质的力学和输运性质。第五章：高压高温下的粘滞性与扩散粘滞性是衡量地幔物质抵抗塑性流动的关键参数。本章结合大体积实验和理论计算，研究了橄榄石和主要地幔矿物在极端条件下的扩散率和激活能。讨论了位错蠕变、扩散蠕变等流变机制在高压下的转换点，以及水含量对粘滞性的显著“润滑”效应。分析了这些数据对地幔对流速率和地幔热动力学模型的影响。第六章：地核物质的电导率与磁场起源本书的最后一部分将目光投向地球的最深处——地核。聚焦于液态外核中铁合金的性质。重点分析了如何通过密度泛函理论（DFT）计算，结合高压实验对熔点和密度数据的约束，来确定外核的组成、温度结构和热演化路径。深入讨论了在极端高压下液态铁的电导率、热导率以及其对地球磁场发电机效应的贡献。对可能存在于核幔边界的低剪切波速区（LVZ）的物理解释也进行了详尽的探讨。结语：展望行星科学的未来《地球深部物质的极端条件研究》不仅是对现有知识的系统总结，更是对未来研究方向的展望。通过整合高压物理、计算模拟和地球物理观测的最新进展，本书为读者提供了理解地球“内部引擎”的坚实基础，并为探索其他岩石行星（如火星、系外岩石行星）的内部结构提供了必要的物理框架。

作者简介

Harland G. Tompkins received his BS in physics from the University of Missouri and his PhD in physics from the University of Wisconsin-Milwaukee. He is a consultant for the J. A. Woollam Company in Lincoln, NE, as well as for other companies. He has written numerous journal articles in the reviewed technical literature, is the author of four books, and has edited two books.

James N. Hilfiker graduated from the Electrical Engineering Department of the University of Nebraska, where he studied under Professor John Woollam. He joined the J.A. Woollam Company upon graduation and has worked in their applications lab for 20 years. His research at the J.A. Woollam Company has focused on new applications of ellipsometry, including characterization of anisotropic materials, liquid crystal films, and, more recently, thin film photovoltaics. He has authored over 40 technical articles involving ellipsometry.

目录信息

读后感

评分☆☆☆☆☆

用户评价

评分☆☆☆☆☆

拿到《Spectroscopic Ellipsometry》这本书，我感觉仿佛打开了一扇通往材料表征新世界的大门。我对这项技术了解不多，但知道它在现代科学研究和工业生产中扮演着举足轻重的角色。我希望这本书能用一种非常循序渐进的方式，为我这样背景相对薄弱的读者打下坚实的基础。首先，应该会从光的偏振性质开始讲起，解释为什么椭圆偏振技术如此独特和强大。然后，必然会涉及到光谱学和椭圆偏振计的工作原理，以及如何进行不同波长范围的测量。我特别期待的是，书中能够提供详实的案例分析，展示如何运用这些技术来识别和量化各种材料的 optical constants（光学常数），比如金属、半导体、绝缘体甚至是生物分子。如果它还能讨论一些高级主题，例如在动态测量、表面敏感测量或非常规样品测量中的应用，那将是对我学习的极大促进。

评分☆☆☆☆☆

对于《Spectroscopic Ellipsometry》这本书，我的期待是它能提供一种全新的视角来理解材料的精细结构和性质。我经常在阅读相关文献时遇到这个词组，但对其具体内容总是有些模糊。我期望这本书能够系统地阐述这项技术的理论基础，包括麦克斯韦方程组与偏振态的关联，以及如何利用傅里叶变换等数学工具来解析复杂的测量数据。我希望它能详细介绍不同类型的椭圆偏振光谱仪，它们的工作原理、优缺点以及适用范围。更重要的是，我期待书中能够深入讲解如何构建和优化物理模型，以准确地提取出材料的折射率、厚度、粗糙度等关键参数。如果书中还能涵盖一些关于数据可视化和后处理技术的讨论，例如如何呈现和解释拟合结果，如何评估模型的可靠性，那就更能帮助我深入掌握这项技术。

评分☆☆☆☆☆

在众多科学著作中，《Spectroscopic Ellipsometry》这本书以其独特的书名吸引了我。我一直认为，能够精确探测和表征物质的纳米尺度特性是现代科学进步的关键之一。光谱椭圆偏振技术，听起来就蕴含着巨大的能量，能够揭示肉眼无法触及的奥秘。我猜测这本书会是一份详尽的技术指南，深入浅出地解析这项技术的物理原理、仪器设计、测量方法以及数据处理流程。我期待它能够带领我一步步理解，如何通过测量不同波长光与样品相互作用时偏振态的变化，来反推出样品表面的光学特性，比如薄膜的厚度、折射率、消光系数，甚至更复杂的性质如电导率、介电常数等。我希望书中能包含大量的实验范例和图示，以便我能更直观地理解抽象的理论概念，并能将其应用到自己的研究实践中。

评分☆☆☆☆☆

这本书我早就听说过，一直想找时间好好研读一番。封面设计简洁大气，书名“Spectroscopic Ellipsometry”本身就散发着一种深邃而专业的魅力。我特别欣赏那种能够将复杂科学原理以清晰易懂的方式呈现出来的书籍，尤其是像光谱椭圆偏振技术这种跨越光学、材料科学和物理学前沿的领域。我预设它会是一本理论与实践并重的著作，从基础的光学原理讲起，深入浅出地剖析椭圆偏振的测量机制，再到如何利用这些测量数据反演出材料的厚度、折射率、消光系数等关键物理参数。我想象中，书中会有大量的图表和公式，但绝不是堆砌式的枯燥罗列，而是精心设计，能够直观地展示概念，帮助读者建立起对测量过程和数据分析的立体认知。我特别期待它能包含一些实际应用案例，比如在半导体、薄膜沉积、生物传感等领域的具体应用，这样能够让我更好地理解这项技术在现实世界中的价值和潜力。总而言之，我对这本书充满了期待，希望它能成为我学术研究和技术探索的得力助手。

评分☆☆☆☆☆

我最近入手了这本《Spectroscopic Ellipsometry》，翻开目录就被深深吸引了。它似乎不像是一本简单的教科书，更像是一本详尽的百科全书，涵盖了从基础理论到前沿应用的方方面面。我个人对光学测量技术一直有着浓厚的兴趣，尤其是那些能够“看见”微观世界的工具。光谱椭圆偏振技术，听起来就充满着科技感和探索性。我猜这本书会深入探讨不同波段光与物质的相互作用，以及如何通过分析反射或透射光的偏振态变化来揭示材料的纳米尺度特性。我希望它能详细介绍各种测量模式和数据处理算法，比如如何进行模型拟合，如何处理复杂的多层膜结构，以及如何应对实际测量中可能出现的误差和不确定性。此外，如果书中能包含一些关于仪器设计和校准的章节，那就更完美了，毕竟硬件是实现精确测量的基石。我已经迫不及待想深入其中，去探索这个令人着迷的光学测量领域。

评分☆☆☆☆☆