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Handbook of Microscopy for Nanotechnology

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Yao, Nan (EDT)/ Wang, Zhong Lin (EDT) 作者
Kluwer Academic Pub
译者
2004-11 出版日期
751 页数
$ 383.07 价格
HRD
丛书系列
9781402080036 图书编码

Handbook of Microscopy for Nanotechnology 在线电子书 图书标签: 纳米材料  电子显微镜  手册   


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发表于2024-12-24


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Handbook of Microscopy for Nanotechnology 在线电子书 图书描述

Nanostructured materials take on an enormously rich variety of properties and promise exciting new advances in micromechanical, electronic, and magnetic devices as well as in molecular fabrications. The structure-composition-processing-property relationships for these sub 100 nm-sized materials can only be understood by employing an array of modern microscopy and microanalysis tools. "Handbook of Microscopy for Nanotechnology" aims to provide an overview of the basics and applications of various microscopy techniques for nanotechnology. This handbook highlights various key microscopic techniques and their applications in this fast-growing field. Topics to be covered include the following: scanning near field optical microscopy, confocal optical microscopy, atomic force microscopy, magnetic force microscopy, scanning turning microscopy, high-resolution scanning electron microscopy, orientational imaging microscopy, high-resolution transmission electron microscopy, scanning transmission electron microscopy, environmental transmission electron microscopy, quantitative electron diffraction, Lorentz microscopy, electron holography, 3-D transmission electron microscopy, high-spatial resolution quantitative microanalysis, electron-energy-loss spectroscopy and spectral imaging, focused ion beam, secondary ion microscopy, and field ion microscopy.

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