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Handbook of Microscopy for Nanotechnology

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Yao, Nan (EDT)/ Wang, Zhong Lin (EDT) 作者
Kluwer Academic Pub
譯者
2004-11 出版日期
751 頁數
$ 383.07 價格
HRD
叢書系列
9781402080036 圖書編碼

Handbook of Microscopy for Nanotechnology 在線電子書 圖書標籤: 納米材料  電子顯微鏡  手冊   


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發表於2024-11-26

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Handbook of Microscopy for Nanotechnology 在線電子書 圖書描述

Nanostructured materials take on an enormously rich variety of properties and promise exciting new advances in micromechanical, electronic, and magnetic devices as well as in molecular fabrications. The structure-composition-processing-property relationships for these sub 100 nm-sized materials can only be understood by employing an array of modern microscopy and microanalysis tools. "Handbook of Microscopy for Nanotechnology" aims to provide an overview of the basics and applications of various microscopy techniques for nanotechnology. This handbook highlights various key microscopic techniques and their applications in this fast-growing field. Topics to be covered include the following: scanning near field optical microscopy, confocal optical microscopy, atomic force microscopy, magnetic force microscopy, scanning turning microscopy, high-resolution scanning electron microscopy, orientational imaging microscopy, high-resolution transmission electron microscopy, scanning transmission electron microscopy, environmental transmission electron microscopy, quantitative electron diffraction, Lorentz microscopy, electron holography, 3-D transmission electron microscopy, high-spatial resolution quantitative microanalysis, electron-energy-loss spectroscopy and spectral imaging, focused ion beam, secondary ion microscopy, and field ion microscopy.

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