VLSI Test Principles and Architectures

VLSI Test Principles and Architectures pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

出版者:Elsevier Science Ltd
作者:Wang, Laung-terng (EDT)/ Wu, Cheng-Wen (EDT)/ Wen, Xiaoqing (EDT)
出品人:
页数:808
译者:
出版时间:2006-7
价格:620.00元
装帧:HRD
isbn号码:9780123705976
丛书系列:
图书标签:
  • VLSI 
  • 可测性设计 
  • 计算机体系结构 
  • 计算机 
  • 英文 
  • 微电子 
  • 体系结构 
  • EE 
  •  
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This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.

· Most up-to-date coverage of design for testability. · Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books. · Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures. · Lecture slides and exercise solutions for all chapters are now available. · Instructors are also eligible for downloading PPT slide files and MSWORD solutions files from the manual website.

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在公司给杂志社投稿的时候看过这本参考书,非常系统的介绍了可测性设计的内容,要是能有一些实践的代码就更好了。

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