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Wang, Laung-terng (EDT)/ Wu, Cheng-Wen (EDT)/ Wen, Xiaoqing (EDT) 作者

Elsevier Science Ltd

译者

2006-7 出版日期

808 页数

620.00元价格

HRD

丛书系列

9780123705976 图书编码

VLSI Test Principles and Architectures 在线电子书图书标签: VLSI 可测性设计计算机体系结构计算机英文微电子体系结构 EE

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发表于2024-12-23

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VLSI Test Principles and Architectures 在线电子书用户评价

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看了一半

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哎。。。终于考掉这门了。。。书又厚又沉，写得让人觉得很拗口。。。按照课程安排挑着读了一些。。。。TAT。。。。

评分☆☆☆☆☆

看了一半

评分☆☆☆☆☆

在公司给杂志社投稿的时候看过这本参考书，非常系统的介绍了可测性设计的内容，要是能有一些实践的代码就更好了。

评分☆☆☆☆☆

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VLSI Test Principles and Architectures 在线电子书图书描述

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This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.

· Most up-to-date coverage of design for testability. · Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books. · Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures. · Lecture slides and exercise solutions for all chapters are now available. · Instructors are also eligible for downloading PPT slide files and MSWORD solutions files from the manual website.

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