VLSI Test Principles and Architectures 在線電子書 圖書標籤: VLSI 可測性設計 計算機體係結構 計算機 英文 微電子 體係結構 EE
發表於2024-11-14
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看瞭一半
評分在公司給雜誌社投稿的時候看過這本參考書,非常係統的介紹瞭可測性設計的內容,要是能有一些實踐的代碼就更好瞭。
評分哎。。。終於考掉這門瞭。。。書又厚又沉,寫得讓人覺得很拗口。。。按照課程安排挑著讀瞭一些。。。。TAT。。。。
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This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.
· Most up-to-date coverage of design for testability. · Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books. · Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures. · Lecture slides and exercise solutions for all chapters are now available. · Instructors are also eligible for downloading PPT slide files and MSWORD solutions files from the manual website.
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