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VLSI Test Principles and Architectures

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Wang, Laung-terng (EDT)/ Wu, Cheng-Wen (EDT)/ Wen, Xiaoqing (EDT) 作者
Elsevier Science Ltd
譯者
2006-7 出版日期
808 頁數
620.00元 價格
HRD
叢書系列
9780123705976 圖書編碼

VLSI Test Principles and Architectures 在線電子書 圖書標籤: VLSI  可測性設計  計算機體係結構  計算機  英文  微電子  體係結構  EE   


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發表於2024-11-22

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VLSI Test Principles and Architectures 在線電子書 用戶評價

評分

在公司給雜誌社投稿的時候看過這本參考書,非常係統的介紹瞭可測性設計的內容,要是能有一些實踐的代碼就更好瞭。

評分

看瞭一半

評分

哎。。。終於考掉這門瞭。。。書又厚又沉,寫得讓人覺得很拗口。。。按照課程安排挑著讀瞭一些。。。。TAT。。。。

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看瞭一半

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VLSI Test Principles and Architectures 在線電子書 圖書描述

在綫閱讀本書

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.

· Most up-to-date coverage of design for testability. · Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books. · Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures. · Lecture slides and exercise solutions for all chapters are now available. · Instructors are also eligible for downloading PPT slide files and MSWORD solutions files from the manual website.

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