《最新集成電路測試技術》係統介紹瞭常用集成電路測試的原理、方法和技術，範圍涵蓋瞭數字集成電路、模擬集成電路、SOC器件、數字/模擬混閤集成電路、電源模塊、集成電路測試係統、測試接口闆設計等方麵。主要為從事IC測試相關人員全麵掌握各類集成電路的測試技術打下良好基礎。
《最新集成電路測試技術》首先介紹瞭集成電路測試的基本概念和理論，包括集成電路測試的基本原理、測試的分類、測試的作用等，然後分彆對數字集成電路、存儲器、各類模擬集成電路、數字/模擬混閤電路、SOC、DC-DC模塊的測試方法和技術進行瞭深入細緻的介紹，在此基礎上對IDDQ測試技術以及IC設計到測試的瓶頸和融閤問題進行瞭詳細闡述，並以當前主流大規模集成電路測試係統Sapphire為例，詳細介紹瞭現代集成電路測試係統(ATE)的軟、硬件架構和特點，最後在DIB測試接口闆設計技術中深入論述瞭ATE測試的重要環節負載闆(DIB)的設計技術問題。
《最新集成電路測試技術》可作為從事集成電路設計、測試、應用和集成電路測試設備開發的研究人員、技術人員以及計劃進入集成電路測試領域的相關人員的學習或培訓教材，也可作為高等院校相關專業本科或研究生的教學參考書。
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