Advances in Scanning Probe Microscopy

Advances in Scanning Probe Microscopy pdf epub mobi txt 電子書 下載2025

出版者:Le Lezard Noir
作者:Sakurai, T.; Watanabe, Y.; Sakurai, Toshio
出品人:
頁數:341
译者:
出版時間:2008
價格:$ 154.81
裝幀:
isbn號碼:9783540667186
叢書系列:
圖書標籤:
  • 渡邊安治 
  • ✿攝影集 
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This book covers several of the most important topics of current interest at the forefront of scanning probe microscopy. These include a realistic theory of atom-resolving atomic force microscopy (AFM), fundamentals of MBE growth of III-V compound semiconductors and atomic manipulation for future single-electron devices.

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