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Advances in Scanning Probe Microscopy

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Sakurai, T.; Watanabe, Y.; Sakurai, Toshio 作者
Le Lezard Noir
譯者
2008 出版日期
341 頁數
$ 154.81 價格
叢書系列
9783540667186 圖書編碼

Advances in Scanning Probe Microscopy 在線電子書 圖書標籤: 渡邊安治  ✿攝影集   


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發表於2024-11-22

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Advances in Scanning Probe Microscopy 在線電子書 圖書描述

This book covers several of the most important topics of current interest at the forefront of scanning probe microscopy. These include a realistic theory of atom-resolving atomic force microscopy (AFM), fundamentals of MBE growth of III-V compound semiconductors and atomic manipulation for future single-electron devices.

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