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X-Ray Scattering from Semiconductors
☆☆☆☆☆
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Fewster, Paul F. 作者
譯者
2001-2 出版日期
300 頁數
$ 99.00 價格
叢書系列
9781860941597 圖書編碼

X-Ray Scattering from Semiconductors 在線電子書 圖書標籤:  

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發表於2025-01-06

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X-Ray Scattering from Semiconductors 在線電子書 用戶評價

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X-Ray Scattering from Semiconductors 在線電子書 著者簡介

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X-Ray Scattering from Semiconductors 在線電子書 圖書描述

X-ray scattering is used extensively to provide detailed structural information about materials. Semiconductors have benefited from X-ray scattering techniques as an essential feedback method for crystal growth, including compositional and thickness determination of thin layers. The methods have been developed to reveal very detailed structural information concerning material quality, interface structure, relaxation, defects, surface damage, and more. This text provides a description of the techniques involved in obtaining that information, including X-ray diffractometers and their associated instrument functions, data collection methods, and the simulation of the diffraction patterns observed. Also presented are examples and procedures for interpreting the data to build a picture of the sample, much of which is common to materials other than semiconductors.

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