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Stress-induced Phenomena in Metallization

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Ogawa, Shinichi (EDT)/ Ho, Paul S. (EDT)/ Zschech, Ehrenfried (EDT) 作者
译者
2007-11 出版日期
212 页数
$ 111.87 价格
丛书系列
9780735404595 图书编码

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发表于2024-11-13


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Stress-induced Phenomena in Metallization 在线电子书 图书描述

The conference was on reliability related science in ULSI interconnect. Its main purpose was to discuss the stress induced phenomena in the LSI interconnect among academic researchers and industry engineers to establish academic science and to improve the reliability of ULSI chips. All papers were peer reviewed.

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