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Stress-induced Phenomena in Metallization

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Ogawa, Shinichi (EDT)/ Ho, Paul S. (EDT)/ Zschech, Ehrenfried (EDT) 作者
譯者
2007-11 出版日期
212 頁數
$ 111.87 價格
叢書系列
9780735404595 圖書編碼

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發表於2024-11-13

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Stress-induced Phenomena in Metallization 在線電子書 圖書描述

The conference was on reliability related science in ULSI interconnect. Its main purpose was to discuss the stress induced phenomena in the LSI interconnect among academic researchers and industry engineers to establish academic science and to improve the reliability of ULSI chips. All papers were peer reviewed.

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