顆粒粒度測量技術及應用

顆粒粒度測量技術及應用 pdf epub mobi txt 電子書 下載2026

出版者:化學工業
作者:蔡小舒//蘇明旭//瀋建琪
出品人:
頁數:342
译者:
出版時間:2010-9
價格:68.00元
裝幀:
isbn號碼:9787122089076
叢書系列:
圖書標籤:
  • 材料
  • kelilidu
  • 顆粒測量
  • 粒度分析
  • 顆粒技術
  • 粉體
  • 材料科學
  • 物理測試
  • 工業應用
  • 質量控製
  • 分析測試
  • 粒度分布
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具體描述

《顆粒粒度測量技術及應用》是作者所在團隊多年來科研成果的總結,反映和代錶瞭我國目前顆粒粒度測量技術的水平。內容包括顆粒係統的基本知識、光散射基本理論及基於光散射原理的顆粒測量方法和技術,超聲散射的基本原理和基於超聲的顆粒測量方法和技術,顆粒測量應用中的一些問題等。書中還收錄瞭顆粒的摺射率及物性參數、標準顆粒等顆粒測量中涉及到的參數和資料,對於從事顆粒製備和應用研究的科技人員在進行顆粒粒度測量時具有很好的參考價值。

《顆粒粒度測量技術及應用》適閤於從事顆粒材料測量、加工、製造行業的工程技術人員、研究人員、實驗人員以及高校師生。

《精細化工過程控製策略》 本書聚焦於現代精細化工生産過程中至關重要的自動化控製技術與策略。在競爭日益激烈、環保法規日益嚴苛的市場環境下,如何通過精準、高效的控製手段來優化生産流程、提升産品質量、降低生産成本、減少環境汙染,是精細化工企業麵臨的核心挑戰。本書正是針對這一挑戰,係統地闡述瞭精細化工過程控製的理論基礎、關鍵技術及其在實際生産中的應用。 核心內容概述: 1. 精細化工過程的特性與控製難點分析: 詳細解析精細化工過程的復雜性,包括多相反應、相變、分離過程的高度耦閤性,以及反應動力學、傳質傳熱過程的非綫性特徵。 深入探討影響控製效果的關鍵因素,如原料批次波動、設備磨損、環境變化等,並分析這些因素如何導緻過程不穩定,增加控製難度。 識彆並闡述不同類型精細化工單元操作(如反應器、精餾塔、萃取器、結晶器、乾燥器等)在控製方麵的共性與個性化挑戰。 2. 先進過程控製(APC)理論與方法: 模型預測控製(MPC): 詳細介紹MPC的基本原理,包括係統辨識、模型建立(如ARX、ARMAX、狀態空間模型等)、預測模型構建、優化求解以及控製律生成。重點闡述MPC如何通過對未來過程行為的預測,提前調整控製信號,從而實現對強耦閤、時滯、非綫性係統的最優控製。書中將通過實例分析,展示MPC在精餾塔、反應器等關鍵單元的應用。 模糊邏輯控製(FLC)與神經網絡控製(NNC): 探討基於專傢經驗和模糊規則的FLC,以及能夠從數據中學習並自適應調整的NNC。分析它們在處理難以建模的非綫性過程、提高係統魯棒性方麵的優勢。將結閤具體應用場景,如催化劑選擇性控製、産品純度精確調控等,說明其實現方法。 自適應控製與魯棒控製: 闡述當過程參數發生變化時,自適應控製器如何實時調整控製策略以維持性能。介紹魯棒控製理論,說明其在處理模型不確定性和外部擾動時的有效性,以及如何設計具有一定容錯能力的控製器。 多變量耦閤控製策略: 針對精細化工過程中普遍存在的變量相互影響問題,詳細介紹解耦技術(如對角占優策略、逆係統方法)以及多變量協調控製的設計思路,旨在實現對多個關鍵過程變量的獨立或協同精確控製。 3. 關鍵控製技術在精細化工中的應用: 反應過程控製: 溫度控製: 強調精確控溫對於反應速率、選擇性和産物分布的重要性,介紹 PID 控製器的優化整定方法,以及在強放熱/吸熱反應中級聯控製、前饋控製的應用。 濃度/組分控製: 探討在綫分析技術(如色譜、光譜)與控製係統的集成,實現對反應物、中間産物和産物濃度的實時監測與精確調控。介紹組分質量平衡與能量平衡在控製迴路設計中的應用。 pH 值控製: 闡述在某些生化反應或水處理過程中 pH 控製的關鍵性,分析其動態特性,並提供高效的 pH 控製策略。 分離過程控製(精餾、萃取、結晶等): 産品純度與收率控製: 重點關注如何通過優化塔頂/塔底溫度、迴流比、進料位置等參數,實現高純度産品的穩定生産和最大化收率。討論MPC在大型精餾塔節能優化控製中的應用。 相平衡與傳質傳熱控製: 分析影響分離效率的傳質傳熱過程,以及如何通過控製操作參數來優化這些過程。 結晶過程控製: 探討如何通過控製過飽和度、晶種添加、攪拌速率等,獲得目標粒徑分布和晶型,以提高産品質量和過濾性能。 安全聯鎖與事故預防: 強調過程安全在精細化工中的極端重要性。介紹功能安全(SIS)的基本概念,以及在控製係統設計中如何集成安全聯鎖邏輯,有效預防潛在的危險事故,保障人身和設備安全。 4. 過程優化與智能控製: 實時優化(RTO): 介紹如何將實時監測到的過程數據與優化模型相結閤,動態調整設定值,使過程始終運行在經濟最優或效率最優的狀態。 數據驅動的控製與診斷: 探討機器學習、人工智能技術在過程數據分析、故障診斷、異常預警以及智能控製策略製定中的應用潛力。 先進過程監控(APM): 介紹多變量統計過程控製(MSPC)等方法,用於早期發現過程中的異常偏離,及時糾正,防止事態升級。 本書特點: 理論與實踐緊密結閤: 在係統闡述控製理論的同時,大量引用實際精細化工生産過程中的案例,包括醫藥中間體、農藥、染料、高分子材料單體等,使得理論知識更具可讀性和應用性。 圖文並茂,易於理解: 配備大量流程圖、控製框圖、數據麯綫圖等,直觀展示控製原理和應用效果,幫助讀者深入理解復雜的技術概念。 前沿性與實用性兼備: 涵蓋瞭當前精細化工過程控製領域的前沿技術,如基於深度學習的預測控製、強化學習在優化控製中的應用探索等,同時也注重實用性,提供可供藉鑒的具體設計方法和實施經驗。 本書適閤精細化工領域的工程師、技術人員、研究人員,以及相關專業的在校學生閱讀,旨在幫助他們掌握現代精細化工過程控製的核心技術,提升生産效率和産品競爭力。

作者簡介

目錄資訊

第1章 顆粒基本知識1 1.1 概述1 1.2 顆粒的幾何特性2 1.2.1 顆粒的形狀2 1.2.2 顆粒的比錶麵積3 1.2.3 顆粒的密度3 1.3 顆粒粒度及粒度分布4 1.3.1 單個顆粒的粒度4 1.3.2 顆粒群的粒徑分布6 1.3.3 顆粒群的平均粒度11 1.4 標準顆粒13 1.5 顆粒測量中的顆粒分散問題16 1.5.1 顆粒分散方法概述17 1.5.2 常見問題討論18 參考文獻19第2章 光散射基本理論21 2.1 衍射散射基本理論21 2.1.1 惠更斯菲涅耳原理21 2.1.2 巴卑涅原理23 2.1.3 衍射的分類24 2.1.4 夫琅和費單縫衍射25 2.1.5 夫琅和費圓孔衍射26 2.2 光散射基本理論28 2.2.1 光散射概述28 2.2.2 光散射基本知識29 2.2.3 經典Mie光散射理論32 2.3 幾何光學對散射的描述49 2.3.1 概述49 2.3.2 計算方法49 2.4 非平麵波的散射理論54 2.4.1 廣義Mie理論54 2.4.2 基本理論54 2.4.3 波束因子的區域近似計算59 2.4.4 高斯波束入射60 2.4.5 數值結果61 參考文獻62第3章 散射光能顆粒測量技術65 3.1 概述65 3.2 基於衍射理論的激光粒度儀67 3.2.1 衍射散射式激光粒度儀的基本原理67 3.2.2 多元光電探測器各環的光能分布69 3.2.3 衍射散射法的數據處理方法72 3.3 基於Mie散射理論的激光粒度儀76 3.4 影響激光粒度儀測量精度的幾個因素79 3.4.1 接收透鏡焦距的閤理選擇79 3.4.2 被測試樣的濃度80 3.4.3 被測試樣軸嚮位置的影響82 3.4.4 被測試樣摺射率的影響84 3.4.5 光電探測器對中不良的影響85 3.4.6 儀器的檢驗86 3.5 激光粒度儀測量下限的延伸86 3.5.1 倒置傅裏葉變換光學係統88 3.5.2 雙鏡頭技術89 3.5.3 雙光源技術90 3.5.4 偏振光散射強度差(PIDS)技術90 3.5.5 全方位多角度技術91 3.5.6 國産激光粒度儀的新發展93 3.6 角散射顆粒測量技術96 3.6.1 角散射式顆粒計數器的工作原理97 3.6.2 角散射式顆粒計數器的散射光能與粒徑麯綫98 3.6.3 角散射式顆粒計數器FD麯綫的討論101 3.6.4 角散射式顆粒計數器的測量區及其定義104 3.6.5 角散射式顆粒計數器的計數效率108 3.6.6 角散射式顆粒計數器的主要技術性能指標109 參考文獻112第4章 透射光能顆粒測量技術115 4.1 消光法115 4.1.1 概述115 4.1.2 消光法測量原理115 4.1.3 消光係數117 4.1.4 消光法的數據處理方法119 4.1.5 顆粒濃度測量126 4.1.6 消光法的粒徑測量範圍及影響測量精度的因素126 4.1.7 消光法顆粒測量裝置和儀器128 4.2 光脈動法顆粒測量技術130 4.2.1 光脈動法的基本原理131 4.2.2 光脈動法的發展現狀133 4.3 消光起伏頻譜法136 4.3.1 數學模型136 4.3.2 測量方法和測量原理138 4.3.3 消光起伏頻譜法的發展現狀147 參考文獻149第5章 動態光散射測粒技術的原理和發展概況153 5.1 引言153 5.2 動態光散射測粒技術的原理155 5.2.1 基本概念和基本關係155 5.2.2 粒度測量的一般原理和基本分析157 5.2.3 典型裝置和數據分析方法160 5.3 動態光散射測粒技術的發展概況164 5.3.1 動態光散射技術的起源和初步定型164 5.3.2 動態光散射測粒技術的早期發展166 5.3.3 動態光散射測粒技術研究開發的現狀和發展趨勢166 參考文獻167第6章 超聲法顆粒測量技術171 6.1 聲和超聲171 6.1.1 聲和超聲的産生171 6.1.2 超聲波特徵量172 6.2 超聲法顆粒測量基本概念176 6.2.1 聲衰減和聲速測量178 6.2.2 能量損失機理180 6.3 超聲法顆粒測量理論182 6.3.1 ECAH理論模型183 6.3.2 ECAH 理論模型的拓展和簡化193 6.3.3 耦閤相模型202 6.3.4 顆粒測量208 6.3.5 基於電聲學理論的ZETA電勢測量214 6.4 小結215 參考文獻215第7章 納米顆粒的測量219 7.1 納米顆粒測量的背景和特點219 7.2 動態光散射納米顆粒測量220 7.3 可視法納米顆粒測量223 7.4 超聲法納米顆粒測量225 7.4.1 超聲法的特點和裝置226 7.4.2 納米顆粒檢測的實例227 7.4.3 超聲納米顆粒檢測中注意事項230 參考文獻231第8章 反演算法233 8.1 約束算法233 8.1.1 顆粒粒徑求解的一般討論233 8.1.2 約束算法在光散射顆粒測量中應用234 8.2 非約束算法244 8.2.1 非約束算法的一般討論244 8.2.2 Chahine算法及其改進247 8.2.3 投影算法249 8.2.4 鬆弛算法251 8.2.5 Chahine算法和鬆弛算法計算實例253 參考文獻255第9章 工業應用及在綫測量257 9.1 霧化液滴測量257 9.1.1 激光散射法測量258 9.1.2 特大霧化液滴粒度測量260 9.2 乳濁液中液體顆粒大小的測量261 9.3 汽輪機中濕蒸汽測量262 9.4 煙氣輪機入口顆粒濃度及粒徑的在綫測量264 9.5 煙霧連續在綫測量266 9.6 圖像法測量快速流動顆粒267 9.7 電廠氣力輸送煤粉粒徑、濃度和速度在綫測量269 9.8 超細顆粒摺射率測量271 9.9 超聲測量高濃度水煤漿273 參考文獻274第10章 其他顆粒測量方法275 10.1 電感應法275 10.1.1 電感應法的基本原理275 10.1.2 儀器的配置與使用277 10.1.3 測量誤差279 10.1.4 小結283 10.2 顯微鏡法283 10.2.1 顆粒粒徑的定義284 10.2.2 粒徑測量285 10.2.3 光學顯微鏡與電子顯微鏡288 10.2.4 小結290 10.3 圖像分析法291 10.3.1 顆粒圖像分析的基本概念和方法291 10.3.2 顆粒圖像分析過程和結果錶示294 10.3.3 小結297 10.4 沉降法299 10.4.1 顆粒在液體中沉降的Stokes公式300 10.4.2 顆粒達到最終沉降速度所需的時間301 10.4.3 臨界直徑及測量上限302 10.4.4 布朗運動及測量下限303 10.4.5 Stokes公式的其他影響因素304 10.4.6 測量方法及儀器類型306 10.4.7 沉降天平309 10.4.8 光透沉降法312 10.4.9 離心沉降314 10.4.10 小結315參考文獻316附錄318 附錄一 國內外主要顆粒儀器生産廠商318 附錄二 國內外顆粒測量標準319 附錄三 國內外標準顆粒主要生産廠商325 附錄四 液體的黏度和摺射率326 附錄五 固體化閤物的摺射率329
· · · · · · (收起)

讀後感

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用戶評價

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這本書的裝幀設計倒是挺考究的,封麵采用瞭一種略帶磨砂質感的紙張,觸感非常細膩,拿在手裏有一種沉甸甸的踏實感,不像有些技術書籍那樣輕飄飄的,一看就是下瞭功夫的。字體排版上,正文部分的字號大小適中,行距也處理得恰到好處,長時間閱讀下來眼睛不容易感到疲勞,這點對於我們這些經常需要鑽研技術細節的人來說,簡直是福音。而且,書脊的裝訂工藝看起來也相當牢固,估計即便是經常翻閱,也不會輕易齣現散頁的情況。不過,話說迴來,內頁的插圖和圖錶的清晰度嘛,倒是稍微有點遺憾。有些復雜的微觀結構圖,放大來看細節還是有些模糊,如果能用更高分辨率的圖像來呈現,那在理解那些抽象的概念時,效果一定會更好。總體來看,作為一本工具書,它在物理層麵的質感上絕對是值得稱贊的,至少在書架上擺著,也是一種體麵的存在。

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我個人比較欣賞這本書中對於不同測量原理的“兼容並包”的態度。市麵上很多相關書籍往往會過度偏嚮某一種主流技術,比如激光衍射或者沉降法,然後對其他方法輕描淡寫。但這本書的廣度令人印象深刻,它詳細對比瞭靜態光散射、動態光散射(DLS)、透過電鏡法以及篩分法的各自優劣勢和適用邊界。更妙的是,它沒有簡單地羅列這些技術的特點,而是用一係列實際案例來演示,在麵對高分散性體係、球形顆粒與非球形顆粒,以及超細顆粒的測量時,哪種方法會給齣最可靠的結果。這種全景式的審視,極大地拓寬瞭我的技術視野,讓我明白瞭在實際問題麵前,不存在“最好的技術”,隻有“最閤適的工具”。

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我是在一個關於材料科學的專業論壇上看到有人推薦這本書的,當時主要是被它在“數據處理與結果解讀”部分所吸引。這本書並沒有停留在單純的儀器操作層麵,而是深入探討瞭如何從原始的粒度分布數據中提煉齣真正有價值的信息。特彆是關於誤差分析和不確定度評估的那幾章,作者的論述非常嚴謹且富有邏輯性,幾乎是手把手地教你如何識彆和規避測量過程中的係統誤差和隨機波動。舉個例子,書中關於“峰值漂移”對結果影響的量化分析,是我之前在其他資料裏從未見過的深入探討,它不僅僅是描述現象,更是給齣瞭具體的修正模型。這對於我們日常工作中需要齣具高精度報告的工程師來說,無疑是提供瞭強有力的理論支撐,讓人感覺自己手中的數據不再是簡單的數字堆砌,而是有瞭更可靠的科學依據。

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坦白說,這本書的語言風格讓我感到有些“老派”,當然,這並非全然是貶義。它更像是那種老一輩德國工程師撰寫的手冊,句式結構嚴謹,邏輯鏈條非常清晰,但缺少瞭現代科普讀物中那種活潑的引導性。初次翻閱時,特彆是涉及基礎理論概念時,感覺有點像在啃一塊需要細嚼慢咽的硬骨頭。每一個定義、每一個公式的推導都遵循著教科書式的嚴密性,沒有太多簡化或者口語化的錶述。對於一個剛入門的新手來說,可能需要多花一些時間去消化吸收,甚至可能需要配閤其他更基礎的入門資料來輔助理解。但一旦你跟上瞭作者的思路,你會發現這種紮實的基礎構建方式,遠比那些淺嘗輒止的概述要來得可靠得多,它強迫你真正去理解“為什麼”而不是僅僅記住“是什麼”。

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這本書的章節安排存在一些明顯的時間感差異,這讓人在閱讀過程中體驗頗為復雜。一方麵,關於經典粒度分析理論和基礎光學原理的部分,內容更新得非常及時,數據引用也大多是近五到七年的前沿研究,這部分閱讀體驗極佳,緊跟學科發展脈搏。但另一方麵,當我翻到關於儀器自動化和在綫監測係統的介紹時,感覺像是翻閱瞭一本五年前的舊刊物,對最新的智能算法和基於AI的實時修正模型的討論幾乎是空白的。這使得這本書在作為一本涵蓋所有現代粒度分析技術的綜閤參考書時,顯得有些“跛腳”。它在深度上依然無可匹敵,但在廣度和時效性上,尤其是針對工業4.0背景下的新興應用,稍顯滯後,這需要未來的再版中重點加強。

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