本书主要介绍以下三部分内容：数字系统测试和故障诊断技术的理论和技术，其中重点介绍了测试向量的生成技术和方法以及测试向量的优化技术；数字系统可测性设计的基本概念和相关技术，其中对边界扫描设计的原理和有关标准IEEE 1149.1作了较详细的叙述；数字系统的可靠性设计，包括数字可靠性的基本概念，硬件容错技术，全自检技术，编码纠错技术和软件容错技术等。此外，书中附有习题和答案或提示。
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