硅单晶抛光片的加工技术

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出版者:化学工业出版社
作者:张厥宗
出品人:
页数:304
译者:
出版时间:2005-8
价格:35.00元
装帧:精装
isbn号码:9787502572242
丛书系列:
图书标签:
  • 工艺
  • 材料
  • 硅单晶
  • 抛光片
  • 半导体材料
  • 材料科学
  • 制造工艺
  • 表面处理
  • 精密加工
  • 光电材料
  • 微电子
  • 半导体工艺
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具体描述

本书在内容上采取由浅入深的方式,在介绍半导体硅及集成电路有关知识的同时,简单介绍半导体工业及国内、国外半导体材料硅单晶、抛光片技术的发展和动态,重点阐述了硅单晶抛光片的加工制备技术,大直径硅片的运、载,硅单晶、抛光片的测试,洁净室技术及三废处理等内容。并且,书中附有大量的图、表等资料以供读者参考。

硅单晶抛光片的加工技术 导言 精密光学器件和半导体制造是现代科技的两大支柱,而高质量的基底材料是这两大领域的核心。硅单晶抛光片,作为一种经过极其精细加工的硅片,凭借其优异的光学性能、电学特性和化学稳定性,在人造卫星的镜头、高精度测量仪器、以及各种先进的电子元器件中扮演着不可或缺的角色。本书将深入探讨硅单晶抛光片从原材料选择到最终成品出厂的整个加工流程,旨在为相关领域的科研人员、工程师和技术爱好者提供一份全面而详实的参考。 第一章:硅材料基础与需求分析 在深入了解加工技术之前,理解硅材料本身的特性至关重要。本章将详细介绍硅的晶体结构、物理和化学性质,以及这些性质如何影响其在光学和电子领域的应用。我们将探讨不同类型的硅单晶(如直拉法(CZ)硅和区熔法(FZ)硅)在纯度、缺陷密度和导电类型上的差异,以及这些差异对抛光片性能的要求。此外,本章还将分析不同应用场景对硅单晶抛光片的具体需求,例如光学镜头对表面粗糙度、平整度和缺陷的要求,以及半导体行业对硅片尺寸、表面形貌和洁净度的严苛标准。通过对这些基础知识和需求的梳理,为后续章节的加工技术学习奠定坚实基础。 第二章:硅单晶生长与晶棒制备 高质量的硅单晶是制造抛光片的先决条件。本章将详细阐述硅单晶的生长技术,重点介绍直拉法(CZ)和区熔法(FZ)这两种主流的生长工艺。我们将深入分析不同生长方法的原理、关键参数(如温度梯度、坩埚材料、拉速、旋转速度等)的控制,以及这些参数如何影响晶体的质量、晶向和杂质分布。接着,本章将聚焦于从生长出的硅单晶锭(晶棒)到可供加工的初级晶棒的转化过程,包括晶棒的切片、研磨、表面缺陷去除等步骤。我们将讨论不同切片方式(如线切割、砂轮切割)的优缺点,以及如何通过研磨和化学腐蚀等手段有效地去除由切片过程引入的表面损伤层,为后续的抛光工艺做好准备。 第三章:粗抛工艺与表面平整化 粗抛是硅单晶抛光片加工过程中的一个关键步骤,其主要目标是快速去除基底材料,实现初步的表面平整化,并为精抛做准备。本章将详细介绍几种常用的粗抛技术,包括: 机械研磨 (Lapping):重点讲解使用金刚石研磨膏或氧化铝研磨粉作为研磨介质,配合不同硬度和密度的研磨盘(如铸铁盘、聚氨酯盘)进行大面积的材料去除。我们将深入探讨研磨压力、转速、研磨液的粘度和用量等参数对研磨效率和表面形貌的影响。此外,本章还将讨论如何通过调整研磨液的粒径分布,优化研磨过程中产生的表面粗糙度和亚表面损伤。 化学机械抛光 (Chemical Mechanical Polishing, CMP):作为一种高效的平整化技术,CMP通过化学腐蚀和机械研磨的协同作用,能够显著提高材料去除速率并获得更好的表面质量。本章将详细介绍CMP的基本原理,包括抛光液的化学成分(氧化剂、络合剂、pH调节剂等)和其在去除过程中的作用。我们将重点分析抛光垫的材料、结构和孔隙率对抛光效果的影响,以及抛光压力、转速、温度等工艺参数的优化策略。 本章的目标是让读者理解粗抛的目的在于快速有效地降低表面粗糙度和去除加工痕迹,为后续更精细的抛光步骤创造条件。 第四章:精抛工艺与光学表面形成 精抛是决定硅单晶抛光片最终光学质量的关键环节。本章将专注于实现极低的表面粗糙度和高精度的表面形貌。 机械抛光 (Polishing):我们将深入探讨传统的机械抛光技术,使用极细的金刚石抛光剂或纳米级氧化物抛光粉(如二氧化硅、氧化铈)。本章将详细介绍不同抛光盘(如聚氨酯、橡胶、泡沫材料)的特性及其对抛光效果的影响,以及抛光压力、转速、抛光液浓度和流量等参数的精确控制。我们将讨论如何通过多阶段的精抛过程,逐步降低表面粗糙度,直至达到纳米级别。 化学抛光 (Chemical Polishing):在某些特定应用中,化学抛光技术也可以用于硅单晶的表面处理。本章将介绍一些常用的化学抛光液配方及其作用机理,以及化学抛光在去除亚表面损伤和获得超光滑表面方面的优势。同时,我们也会探讨化学抛光可能带来的形貌失真问题,以及如何通过工艺参数的调整来规避。 本章将强调精抛过程中对微观形貌控制的极致追求,以及如何通过精密的参数调控,获得满足严苛光学要求的超光滑表面。 第五章:表面形貌与缺陷检测 无论采用何种加工技术,对硅单晶抛光片表面形貌和潜在缺陷的检测都是必不可少的。本章将详细介绍各种先进的检测技术: 表面粗糙度测量:我们将介绍原子力显微镜(AFM)、轮廓仪(Profilometer)等测量手段,以及表面粗糙度参数(如Ra, Rq, Rz)的定义和在不同应用中的意义。 表面平整度与翘曲度测量:介绍干涉仪(Interferometer)、激光扫描系统等设备,用于评估抛光片的整体平整度和关键的翘曲度指标。 表面缺陷检测:详细介绍自动光学检测(AOI)系统、高分辨率显微镜等,用于识别和量化表面上的划痕、凹坑、颗粒、污点等缺陷。本章还将讨论不同类型的缺陷产生的可能原因,以及如何通过分析缺陷来反馈和优化加工工艺。 本章旨在为读者提供一套完整的检测工具箱,确保加工出的硅单晶抛光片能够达到预期的质量标准。 第六章:洁净度控制与封装 对于高性能的硅单晶抛光片而言,洁净度是决定其性能的关键因素之一,尤其是在半导体制造领域。本章将深入探讨: 洁净室环境控制:详细介绍超净车间的等级要求(如ISO Class 1, Class 10),以及空气过滤系统、正压维持、人员净化等措施。 清洗工艺:介绍多种有效的清洗方法,如超声波清洗、湿法清洗(使用特定化学试剂如SC-1, SC-2)、等离子清洗等,以及每种方法的原理、适用范围和优缺点。我们将重点讨论如何选择合适的清洗剂和工艺参数,以有效去除各种污染物,如有机物、颗粒、金属离子等。 包装与运输:介绍无尘包装材料的选择(如聚丙烯、聚乙烯薄膜),以及防静电、防震动的包装方法,确保抛光片在储存和运输过程中保持其高洁净度和完好的表面质量。 本章将强调从生产到最终交付的每一个环节都必须严格控制洁净度,以避免污染对产品性能造成影响。 结论 硅单晶抛光片的加工是一项集材料科学、精密机械加工、化学工程和质量控制于一体的复杂系统工程。本书通过对从材料选择、单晶生长、粗抛、精抛到检测和洁净度控制的详细阐述,希望能为读者提供一个清晰而深入的认知。掌握这些加工技术,不仅能够生产出满足各种高端应用需求的硅单晶抛光片,更能为相关领域的技术创新和产业发展提供坚实的基础。

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我是一名半导体行业的从业者,虽然我的工作不是直接涉及硅单晶抛光,但我们部门的产品,无论是芯片还是传感器,最终都需要应用到这些高质量的硅片上。所以,我一直对抛光环节的技术水平和成本控制非常关注。我非常想知道,在保证如此高的表面质量的前提下,如何才能实现规模化生产,并且有效降低成本。这本书的标题“硅单晶抛光片的加工技术”立刻吸引了我,因为这正是我日常工作中最关心的问题之一。我迫切希望能够从中了解到,当前主流的抛光技术有哪些?它们各自的优缺点是什么?在不同的应用场景下,应该如何选择最适合的抛光工艺?除了传统的机械化学抛光(CMP),是否还有其他新兴的抛光技术,比如等离子抛光或者激光抛光?这些新技术在效率、成本、环保等方面相比传统工艺有哪些优势?我更希望书中能够对这些技术的工艺参数、设备要求、以及质量控制标准进行详细的阐述,最好能结合一些行业内的实际案例,比如某某大厂在抛光工艺上的创新和突破。这样,我不仅能增长见识,还能将学到的知识应用到实际工作中,为提升我们部门的产品质量和竞争力提供理论支持。

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我是一家半导体设备制造商的研发工程师,我们公司正致力于开发新一代的硅片加工设备,因此我们对于行业内最新的加工技术和工艺要求有着持续的关注。这本书的书名“硅单晶抛光片的加工技术”立刻引起了我的注意,因为它直接关系到我们设备的设计和性能指标。我特别想了解,当前行业内最先进的硅单晶抛光技术发展到了什么水平?是否存在一些尚未公开的,或者正在申请专利的创新性抛光方法?例如,在超精密抛光领域,有哪些新的理念和技术正在涌现?我们一直在探索如何提高抛光效率,减少研磨液消耗,并降低对环境的影响。书中是否会涉及一些关于新型抛光材料,比如金刚石纳米颗粒、或者其他新型硬质材料在抛光过程中的应用?还有,对于不同尺寸和厚度的硅片,以及不同晶向的硅片,其抛光工艺是否存在显著的差异?我希望书中能够提供一些关于设备设计思路、工艺集成、以及性能评估的宝贵信息,这对于我们改进现有设备,开发下一代高端抛光设备至关重要,能帮助我们紧跟行业发展的最前沿,并为客户提供更具竞争力的解决方案。

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这本书我早就想找来看看了,但一直没能如愿。我一直觉得,硅单晶抛光片这东西,虽然看起来平平无奇,但它绝对是现代电子工业的基石,没有它,我们的智能手机、电脑,甚至各种高科技产品都无法运转。所以,我对它的加工技术充满了好奇。我一直想知道,到底是什么样的工艺,才能将粗糙的硅晶体,变成如此光滑、平整、几乎没有瑕疵的镜面?这其中涉及到的材料科学、精密机械加工、化学腐蚀、物理研磨等等,光是想想就觉得很复杂。尤其是抛光这个环节,我脑海里总是浮现出那种在高速旋转的抛光盘上,无数微小的抛光颗粒如何在硅片表面留下痕迹,又如何将这些痕迹抚平,直至达到纳米级的精度。这个过程的控制,需要多么精湛的技术和严格的流程啊!这本书的题目直击了我最想了解的核心,我非常期待能够从书中学习到关于这些精密工艺的详细介绍,了解其背后的科学原理和工程实现,甚至可能还会涉及到一些最新的技术进展,比如新型抛光材料的应用,或者更高效的抛光设备的设计。如果书中能有大量的图示和案例分析,那更是锦上添花,能帮助我更直观地理解那些抽象的工艺流程。

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对于一个对微电子学和材料科学有着浓厚兴趣的业余爱好者来说,这本书的出现无疑是一场及时雨。我一直对那些驱动现代科技发展的“幕后英雄”充满敬畏,而硅单晶抛光片无疑就是其中之一。我常常在思考,我们日常使用的电子产品,其核心的集成电路,是如何在一片小小的硅片上构建出来的?而这一切的前提,就是这片硅片必须具备极高的平整度和表面光洁度,否则任何精密的电路设计都无法实现。所以,我非常好奇,到底需要经过多少道工序,才能将一块璞玉般的硅晶体,变成能够承载亿万晶体管的精密基底?书中关于“加工技术”的描述,让我联想到了一系列复杂的工艺流程:从最初的切割、研磨,到最终的精抛和清洗,每一步都充满了挑战。我特别想知道,在抛光过程中,那些微观层面的物理和化学反应是如何发生的?如何才能精确地控制抛光速率,避免对硅片造成损伤,同时又达到所需的表面质量?我希望书中能够用通俗易懂的语言,配合高清的图片和原理示意图,来解释这些复杂的工艺细节,让我这个门外汉也能窥探到半导体制造的精妙之处,从而更深入地理解科技进步的本质。

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我是一名来自材料科学领域的学生,目前正在进行一项关于半导体材料表面处理的课题研究。对于硅单晶抛光片的质量控制和工艺优化,我有着非常深入的了解和极大的研究热情。这本书的书名“硅单晶抛光片的加工技术”正好契合了我目前的学术需求。我非常希望这本书能够提供关于抛光过程中的关键科学原理的深入探讨,例如不同抛光液和抛光垫的化学相互作用,以及在抛光过程中可能发生的机械损伤机理和化学腐蚀机理。我尤其关注的是,如何通过优化工艺参数,比如抛光压力、抛光转速、抛光时间、以及化学添加剂的浓度,来最大程度地提高抛光效率,同时显著降低表面缺陷的产生,如划痕、凹坑、以及化学残留物。此外,我还在寻找关于先进的检测技术和质量评估方法的最新进展,比如原子力显微镜(AFM)、椭圆偏振仪(Ellipsometry)在评估抛光片表面形貌和光学特性方面的应用。如果书中能够包含相关的实验数据、模拟结果,甚至是不同抛光工艺对硅片表面电学性能影响的分析,那将对我当前的学术研究具有极高的参考价值,能够帮助我开拓新的研究思路。

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