具体描述
本书论述集成电路与嵌入式数字系统的测试技术，提出许多重要且关键的解决方案。针对目前在测试中遇到的实际问题，从技术和产品的投资成本上论述嵌入内核和SoC的测试问题。
本书适合作为高等院校相关专业本科生、研究生的教材或参考书，也可供相关专业技术人员参考。
本书包括五章，按目录的顺序排列是：测试基础、自动测试图形生成(ATPG)、扫描、存储器测试和内核。每章概要如下：第1章包括有关测试的术语、定义和基本信息，介绍了什么是测试和可测性设计，怎么做测试，为什么做测试，需要测试的对象是什么，怎么度量与实施测试，使用什么设备测试，工程和成本权衡的内因是什么。这是非常基础的一章，可以让初学者或初级测试与可测性设计专业人员快速了解测试的需求、作用和语言。第2章介绍繁重的向量生成任务的自动化过程，以及如何利用自动测试图形生成(ATPG)方法减小量产时间。该章描述了AC(动态)和DC(静态)故障模型向量生成分析与技术，包括了在硬件设计中必须遵守某些规则的原因，如何降低向量集合的大小，向量集合生成的时间等内容。本章同时也讨论了ATPG过程中的度量和权衡，介绍了不同ATPG工具的评估和基准程序比较，帮助读者在应用中选择适用的方法和工具。第3章讲述扫描测试方法，开始先介绍了扫描设计和操作的基本知识，讨论了采用一个扫描设计时需要考虑的设计要点与权衡。同时也包括了在设计中的扫描安装技术，以及一些普遍问题的解决方法，例如可靠移位、无竞争向量、移位定时、时钟偏差。最后，介绍了一些减少测试时间的技术，如按照额定功能频率对扫描结构进行移位(全速扫描)，以及从设计的定时分析中抽取关键路径信息，然后在扫描链中使用额定频率采样(AC扫描)，从而通过扫描来达到AC测试目标。第4章讲述存储器测试、扫描测试结构中的存储器应对方法和存储器内建自测试(MBIST)。该章从存储器测试基础讲起，扩展到与扫描共存的测试结构，最后描述内建自测试结构与集成。内建自测试的存储器内核交付要包含很多信息，包括如何处理大量存储器内核集成，如何减少路由的问题，功耗问题，特征提取，数据调试，数据保存问题。第5章介绍使用可测试与可访问的嵌入式内核进行可测性设计。该章先介绍了被称作“嵌入式IP(智能模块)”，嵌入式内核或基于内核的设计风格的基本术语、定义、内容、权衡。基于嵌入式内核的设计流程包括两个方面，设计可测试可重用的内核，使用嵌入式可重用内核设计芯片。学习该章需要深入理解第1、3、4章的内容。
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用户评价
这本《数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计》的书名，立刻让我这个在嵌入式硬件设计领域摸爬滚打多年的工程师眼前一亮。我们常常在实验室里对着示波器、逻辑分析仪，为了一个时序问题或者信号完整性问题而头疼不已，而软件工程师们也常常因为对硬件理解不足而写出低效甚至错误的驱动程序。这本书似乎恰好能搭起这座连接硬件和软件的桥梁。我特别想知道，书中在“数字集成电路”部分，会涉及哪些基础但又至关重要的概念？比如，是否会深入讲解组合逻辑和时序逻辑的设计方法，包括如何使用Verilog或VHDL这样的硬件描述语言来建模和仿真？它是否会触及一些高级的数字电路设计技术，比如流水线、异步电路，或者是一些低功耗设计方法？对于“嵌入式内核系统”，我的好奇心更是被点燃。除了常见的RTOS调度算法、内存管理策略之外，它是否会从硬件层面去剖析内核的运行机制？比如，CPU的流水线如何影响指令执行的性能，缓存一致性如何保证多核系统的数据正确性，以及中断控制器是如何与CPU交互的？我尤为期待的是“测试设计”这一部分。在嵌入式硬件开发中，测试是贯穿整个生命周期的关键环节。这本书是否会详细介绍如何为数字集成电路设计功能测试、性能测试、可靠性测试？它是否会讲解如何设计高效的测试向量，如何进行形式化验证，以及如何利用FPGA原型验证来加速设计迭代？ 对于嵌入式内核系统的测试，它是否会提供针对实时性、中断响应、任务切换等关键指标的测试方法？ 我正在设想，书中是否会提供一些实际的测试流程和案例，展示如何从需求分析到测试用例设计，再到测试执行和结果分析的全过程。比如说，如何设计一个测试用例来验证一个特定的ADC采样精度，或者如何测试一个TCP/IP协议栈在不同网络负载下的表现。这本书的出现，让我觉得终于有机会系统性地提升我在这方面的能力。
评分这本书的书名《数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计》一下子就吸引了我，因为我是一名资深的嵌入式系统架构师，在多年的实践中，我越来越深刻地体会到，一个优秀的系统设计，离不开对底层数字集成电路的深刻理解，以及对整个系统从硬件到软件的全面测试。我非常好奇，书中在“数字集成电路”部分，会涉及哪些更深层次的内容？比如，是否会讲解超大规模集成电路（VLSI）的设计流程，包括逻辑综合、物理综合、版图设计、以及后仿真实践？它是否会触及一些先进的数字逻辑设计技术，例如异步电路设计、低功耗设计方法（如动态电压频率调整DVFS），或者是一些与信号处理相关的基础电路原理？对于“嵌入式内核系统”，我期望它能从更宏观的视角来阐述，比如不同类型处理器架构（RISC-V, ARM, x86）的优劣势，以及它们如何影响内核的设计和性能。书中是否会深入探讨操作系统内核的演进，例如从单体内核到微内核，再到混合内核的趋势，以及这些演进背后的驱动因素？我尤其期待“测试设计”这一部分。在我看来，测试设计是整个产品生命周期中至关重要的一环，而对于复杂的嵌入式系统，更是如此。书中是否会详细介绍如何设计覆盖率极高的测试用例，如何进行边界条件测试，如何进行压力测试和稳定性测试？它是否会讲解如何利用仿真技术（如Verilog仿真、SystemVerilog仿真）和硬件在环（HIL）仿真来有效地验证系统的功能和性能？我还在设想，书中是否会提供一些关于如何设计测试工具链、进行自动化测试、以及如何进行失效分析和根因定位的实践经验？这本书能否为我提供一些新的思路和方法，帮助我设计出更具创新性和鲁棒性的嵌入式系统？
评分长期以来，我一直深陷于嵌入式软件开发的泥潭，总感觉自己缺少一双能够“看穿”硬件的眼睛。《数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计》这个书名，就像一道曙光，预示着我终于可以触及那个神秘的硬件世界。我对书中“数字集成电路”部分的讲解充满了期待。是否会从最基本的CMOS工艺原理入手，讲解二极管、三极管是如何构建出逻辑门，以及逻辑门又如何组合成更复杂的组合逻辑和时序逻辑电路？我想知道，书中是否会介绍如何使用硬件描述语言（HDL），比如Verilog或VHDL，来设计和仿真这些数字电路，并且能够从仿真结果中推断出潜在的电路问题。而“嵌入式内核系统”的部分，我更关心的是它如何连接软件和硬件。比如，CPU是如何执行指令的，内存访问是如何实现的，中断是如何被捕获和处理的？我希望能了解，在不同的嵌入式操作系统（如FreeRTOS, Zephyr）下，内核是如何管理和调度这些硬件资源的。最让我兴奋的还是“测试设计”这一块。我一直觉得，对于嵌入式系统，测试的难度在于它高度依赖于硬件环境，并且很多问题都发生在软件和硬件交互的边界。这本书是否会详细介绍如何设计有效的测试用例，来覆盖各种硬件故障的可能性？它是否会讲解如何利用逻辑分析仪、示波器等硬件调试工具，来观察和分析信号的时序和波形，从而定位问题？我还在思考，书中是否会提供一些关于如何进行单元测试、集成测试和系统测试的框架和方法论，并且能够与硬件的特性紧密结合。比如，如何设计测试来验证DMA传输的正确性，如何测试SPI/I2C通信的稳定性，或者如何评估一个实时操作系统在面对高负载中断时的响应能力。这本书是否能为我打开一扇通往硬件世界的大门，让我能够更自信地解决那些让我头疼不已的嵌入式系统问题？
评分我是一名在嵌入式系统领域有着多年经验的测试工程师，平日里主要负责嵌入式软件的集成测试和系统测试。然而，随着项目越来越复杂，我们经常会遇到一些非常棘手的“黑盒”问题，即在软件层面看似正常，但一旦深入到底层硬件或者时序分析，就可能暴露出问题。因此，《数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计》这个书名，对我来说简直是雪中送炭。我非常期待书中在“数字集成电路”部分，能够为我这个偏重软件的测试人员，提供一些必要的硬件知识。例如，是否会讲解数字信号的表示方法，比如二进制、BCD码，以及常见的逻辑运算（AND, OR, NOT, XOR）是如何在硬件层面实现的？它是否会介绍一些基本的数字电路模块，比如加法器、比较器、多路选择器，以及它们在嵌入式系统中的应用？对于“嵌入式内核系统”，我希望它能帮助我理解内核是如何管理和调度硬件资源的。比如，CPU的时钟是如何工作的，内存是如何被映射和访问的，以及各种外设（如UART, SPI, I2C）是如何通过寄存器与内核进行通信的？我尤其对“测试设计”这一部分充满期待。作为一个测试工程师，我迫切需要知道如何为这些复杂的系统设计出更有效的测试方法。书中是否会深入讲解单元测试、集成测试和系统测试的设计原则，以及如何针对嵌入式系统设计特定的测试用例？比如，如何设计测试来验证中断处理的正确性和及时性？如何设计测试来评估系统在极端条件下的稳定性，例如高温、低温、低电压等？它是否会介绍一些常用的测试工具和技术，例如逻辑分析仪、示波器、JTAG调试器，以及如何利用它们来捕获和分析硬件信号，从而定位软件问题？ 我还在琢磨，书中是否会提供一些针对性的测试策略，以应对嵌入式系统中的一些特殊挑战，比如实时性要求、资源受限性、功耗限制等。这本书能否为我提供一些关于如何构建测试环境、编写自动化测试脚本、以及如何进行故障诊断的宝贵经验？
评分这本书的书名《数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计》一下子就抓住了我从事嵌入式系统开发多年的痛点。我是一名经验丰富的嵌入式软件工程师，主要负责 Linux 内核的裁剪和优化，以及上层应用软件的开发。然而，我时常会遇到一些非常棘手的硬件相关问题，比如内存访问错误、中断处理延迟、信号干扰导致的数据错误等，这些问题往往让我束手无策，因为我缺乏对底层数字集成电路的深入理解。我非常好奇这本书是否会详细阐述数字集成电路的基本构建块，比如逻辑门、触发器、寄存器、计数器等，以及它们是如何组合成更复杂的电路模块，例如ALU、控制器等。更重要的是，它是否会讲解这些电路是如何在物理层面实现的，比如CMOS工艺的原理，以及这些物理特性如何影响电路的性能和功耗。对于“嵌入式内核系统”的部分，我期望它能深入探讨实时操作系统（RTOS）的核心概念，例如进程管理、内存管理、同步机制（如信号量、互斥锁）、中断服务程序（ISR）的设计和优化，以及它们与硬件的交互方式。我特别关心书中对于“测试设计”的论述。我一直认为，对于嵌入式系统而言，测试的难度远大于普通软件。如何在资源受限的环境下进行有效的单元测试？如何设计集成测试来验证软件与硬件的协同工作？如何进行系统级测试来模拟真实的运行场景，并捕获潜在的硬件故障或软件缺陷？这本书是否会介绍一些先进的测试技术，比如覆盖率分析、故障注入测试、边界值分析等，并且提供相关的工具链和实践建议？ 我还在思考，它是否会涉及一些嵌入式系统特有的测试挑战，例如时序约束、功耗敏感性、电磁兼容性（EMC）等，以及如何针对这些挑战设计相应的测试策略。 我多么希望这本书能够提供一些实际的硬件测试用例，甚至是一些电路原理图和测试代码的示例，让我能够学以致用地将书中的知识应用到我的项目中。
评分作为一名对嵌入式领域充满热情的爱好者，我常常在学习过程中感到迷茫，尤其是在软件和硬件如何协同工作这一点上。《数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计》这个书名，简直是为我量身定制的！我特别好奇，书中在“数字集成电路”部分，是否会从基础的逻辑运算开始，讲解如何构建出像加法器、寄存器这样的基本模块，进而组成CPU的核心部件？我希望能看到清晰的电路图和解释，让我能够理解这些逻辑单元是如何工作的。关于“嵌入式内核系统”，我希望它能解释为什么我们需要内核，以及内核是如何管理CPU、内存和外设的。比如，它是否会介绍像ARM Cortex-M这样的处理器架构，以及RTOS（如FreeRTOS）是如何在其上运行的？我希望能了解任务切换、中断处理这些概念是如何在硬件和软件层面协同实现的。而“测试设计”这一部分，更是让我眼前一亮。我经常在制作自己的小项目时，遇到各种奇怪的问题，却不知道如何去验证和调试。这本书是否会教我如何设计有效的测试，来验证我编写的代码是否按照预期工作，并且在面对硬件问题时，我能够知道如何去定位和排查？比如，它是否会介绍如何使用一些常见的调试工具，像JTAG/SWD接口，或者是一些简单的测试方法，例如打印调试信息，或者使用LED来指示程序状态？我还希望能知道，这本书是否会提供一些实际的例子，比如如何测试一个I2C传感器驱动，或者如何验证一个UART通信是否稳定。我多么希望这本书能够带领我一步步地理解，从最底层的电路原理，到复杂的内核机制，再到如何用科学的方法去验证这一切，让我能够真正地掌握嵌入式系统的设计与开发。
评分这本书的目录真是太吸引人了！第一眼就被“数字集成电路”和“嵌入式内核系统”这两个关键词勾住了，这简直是我一直在寻找的宝藏！我是一名软件工程师，平时主要负责嵌入式设备的软件开发，但随着项目越来越复杂，我越来越意识到底层硬件和数字电路原理的重要性。很多时候，当软件出现难以捉摸的bug时，我都怀疑是不是和硬件设计、信号处理或者时序有关系，但苦于没有系统性的知识来分析。这本书的标题暗示了它能够填补我这方面的知识空白，尤其是“测试设计”这个部分，更是让我眼前一亮。我一直觉得，一个优秀的工程师不仅要会写代码，更要懂得如何验证代码的正确性和鲁棒性，而对于硬件相关的系统，测试设计的复杂度更是成倍增加。这本书会不会深入讲解数字信号处理的基本概念，例如采样、量化、滤波等，以及这些概念如何影响到最终的集成电路设计？它是否会触及CMOS、TTL等不同的逻辑门电路工作原理，以及如何根据这些原理来设计和验证更复杂的数字逻辑模块？我特别关心它在测试方法论上会有哪些独特的见解，比如如何设计有效的测试用例来覆盖各种潜在的硬件故障，如何利用仿真工具来模拟实际工作环境，以及如何进行性能测试和功耗测试？这本书会不会提供一些实际的案例研究，展示如何将这些理论知识应用于真实的数字集成电路项目中？ 我还在想，书中对于“嵌入式内核系统”的论述，是否会涵盖实时操作系统（RTOS）的设计原理，比如任务调度、中断处理、进程间通信等，以及这些内核机制与底层硬件电路之间是如何交互的？ 它会不会介绍一些常见的嵌入式处理器架构，比如ARM Cortex-M系列，以及它们的指令集和寄存器模型，这对编写高效的底层代码至关重要。 而“测试设计”这一块，我期待它能详细阐述如何为嵌入式系统设计测试平台，包括硬件测试夹具、仿真器、逻辑分析仪等工具的使用，以及如何编写单元测试、集成测试和系统测试用例。特别是针对嵌入式系统的时序敏感性、资源受限性以及实时性要求，这本书的测试设计方法会不会有特别的考量和解决方案？ 我希望这本书能够提供清晰的图示和详细的步骤，帮助我理解复杂的电路图和时序图，并能够将这些知识应用到我的实际工作中，提升我解决复杂嵌入式系统问题的能力。
评分在我从事嵌入式系统开发的职业生涯中，我常常会遇到这样一种情况：代码在仿真器上跑得好好的，一旦移植到真实的硬件上，就可能出现各种预料之外的问题。这让我意识到，对底层数字集成电路和嵌入式内核的深入理解，以及与之配套的测试设计方法，是多么重要。《数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计》这本书的标题，正是直击我的痛点。我非常期待书中在“数字集成电路”部分，能够深入讲解时序逻辑和组合逻辑的设计原理，特别是关于时序约束、时钟域交叉（CDC）处理以及信号完整性分析等内容。我想知道，书中是否会提供一些实际的数字电路设计案例，例如如何设计一个简单的PCIe接口控制器，或者如何实现一个高效的内存控制器。对于“嵌入式内核系统”，我期望它能详细阐述各种实时操作系统（RTOS）的实现细节，比如任务调度算法（如优先级抢占、时间片轮转）的具体工作机制，中断处理流程的优化策略，以及内存管理单元（MMU）和缓存一致性（Cache Coherency）是如何影响系统性能的。我特别希望书中能够以一个主流的嵌入式处理器架构（例如ARMv8-A）为例，深入剖析其内核设计和与RTOS的交互方式。而“测试设计”这一部分，更是让我充满期待。我希望能在这本书中找到关于如何为嵌入式系统设计健壮的测试策略的答案。比如，如何进行形式化验证来证明设计的正确性？如何设计有效的测试用例来覆盖各种潜在的硬件故障，例如瞬态故障、永久性故障？它是否会介绍如何利用FPGA原型验证来加速设计迭代，以及如何进行功耗分析和电磁兼容性（EMC）测试？ 我还在设想，书中是否会提供一些关于如何构建测试自动化框架、进行故障注入测试、以及如何进行系统性能基准测试的实践指导。这本书能否帮助我提升设计和测试的水平，从而构建出更可靠、更高性能的嵌入式系统？
评分作为一名在高校从事电子工程教学的老师，我一直在寻找一本能够系统性地讲解数字集成电路与嵌入式系统结合，并且包含详细测试设计方法的教材。《数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计》这个书名，正是我梦寐以求的。我非常好奇，书中在“数字集成电路”部分，是否会从最基础的逻辑门开始，逐步深入到组合逻辑和时序逻辑的设计，包括状态机、计数器、移位寄存器等核心模块？它是否会涉及一些实际的电路设计流程，比如需求分析、架构设计、逻辑综合、布局布线，以及如何使用EDA工具（如Cadence, Synopsys）进行仿真和验证？对于“嵌入式内核系统”，我希望它能从硬件架构的角度出发，解释CPU的设计原理，包括指令集架构（ISA）、流水线技术、缓存机制等，并进一步阐述实时操作系统（RTOS）是如何与这些硬件紧密协作，实现任务调度、中断处理、内存管理等功能的。我想知道，书中是否会以某款经典的嵌入式处理器（例如ARM Cortex-M系列）为例，深入剖析其硬件特性以及与之匹配的内核设计。而“测试设计”这一部分，更是让我倍感兴奋。我希望能在这本书中找到关于如何设计系统级测试、性能测试、可靠性测试的详尽指导。书中是否会涵盖如何构建复杂的测试场景，如何模拟各种异常工况，以及如何量化评估系统的性能指标？我尤其关心它在测试方法论上的创新之处，比如如何结合硬件仿真的优势和实际硬件测试的特点，设计出全面而高效的测试方案？是否会介绍一些先进的测试技术，如静态分析、动态分析、覆盖率度量等，并提供实际的应用案例？ 我还在思考，这本书的理论深度和实践性是否能很好地结合，既能为学生打下坚实的理论基础，又能为他们提供参与实际项目所需的工程技能。书中提供的示例代码、实验电路图，能否帮助学生更好地理解抽象的概念，并将知识转化为解决实际问题的能力？
评分作为一个对嵌入式硬件设计和软件开发都充满兴趣的独立开发者，《数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计》这本书的书名，无疑是我近期最期待的读物之一。我非常希望书中在“数字集成电路”部分，能从基础的逻辑门出发，深入浅出地讲解各种数字电路模块的构建原理，例如如何设计一个简单的CPU的ALU，或者如何实现一个高效的内存控制器。我想知道，书中是否会讲解硬件描述语言（HDL），比如Verilog或VHDL，并提供一些实际的电路设计示例，让我能够亲手实践？关于“嵌入式内核系统”，我特别想了解，一个典型的嵌入式Linux系统是如何启动的，以及Linux内核是如何管理硬件资源的。比如，它是否会解释设备树（Device Tree）的作用，以及驱动程序是如何加载和工作的？我希望能理解，在资源有限的嵌入式环境下，如何对Linux内核进行裁剪和优化。而“测试设计”这一部分，更是让我看到了解决实际开发难题的希望。我经常在调试我的嵌入式项目时，遇到各种玄妙的问题，却不知道从何下手。这本书是否会教我如何为嵌入式系统设计全面的测试方案？比如，如何进行单元测试来验证单个硬件模块的功能，如何进行集成测试来验证软件与硬件的协同工作，以及如何进行系统测试来模拟真实的应用场景？我还在琢磨，书中是否会介绍一些实用的调试技巧和工具，比如使用GDB进行远程调试，或者使用示波器和逻辑分析仪来分析信号？我多么希望这本书能够带领我一步步地构建起完整的嵌入式系统知识体系，从底层的硬件到上层的软件，再到如何确保这一切稳定运行的测试方法，让我能够更自信地完成我的每一个项目。
评分ATPG BIST SCAN TEST 这样的书没人读，没天理
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