0 緒論 0.1 內容限定 0.2 錶麵對納米電子結構的影響 0.3 占有態與未占有態 0.4 納米材料電子結構的過渡特徵及簇的橋梁作用 0.5 理論對納米電子結構分析的支持 參考文獻1 納米材料電子結構的特點 1.1 材料電子結構概述 1.1.1 Bloch波函數 1.1.2 κ空間與能帶結構 1.1.3 Fermi能Ef及Fermi分布函數F(E) 1.1.4 狀態密度 1.2 錶麵電子態 1.2.1 金屬錶麵電子隧穿效應 1.2.2 半導體錶麵能帶彎麯 1.2.3 金屬氧化物錶麵缺陷及電子結構 1.3 金屬納米簇電子結構 1.3.1 納米簇電子結構的過渡特性 1.3.2 電子受限尺度 1.3.3 勢阱與電子能級 1.3.4 尺寸與維數對納米電子結構參數的影響 1.3.5 金屬納米簇質譜圖與Jel1ium模型 1.3.6 “魔數”與納米簇結構周期錶 1.3.7 金屬納米簇電離勢 1.3.8 金屬納米簇價帶結構 1.3.9 金屬納米簇極化率 1.3.10 納米簇質譜與Je1lium模型適用性評估 1.3.11 金屬納米粒子電中性及Coulomb阻塞 1.3.12 簇尺寸誘導金屬-絕緣體過渡 1.3.13 金屬納米粒子之間的單電子傳輸 1.4 半導體納米粒子的電子結構 1.4.1 基本概念與幾個相關參數 1.4.2 納米Si電子結構 1.4.3 Si納米粒子的電子結構PES測定 1.4.4 化閤物半導體納米粒子的電子結構 1.4.5 激子 1.5 納米有機聚閤物電子結構 1.5.1 有機分子電子結構及PES譜 1.5.2 聚乙炔分子結構及導電機製 1.5.3 trans-(CH)xUPS測定 參考文獻2 納米材料錶麵電子結構錶徵方法 2.1 引言 2.1.1 電子結構的完整錶述 2.1.2 電子結構錶徵方法概述 2.2 X射綫光電子譜(XPS) 2.2.1 原激發過程與XPS譜 2.2.2 化學位移與占有態結構 2.2.3 終態效應與電子結構 2.2.4 XPS價帶譜 2.2.5 錶麵原子內能級物理位移 2.3 紫外光電子譜 2.3.1 價電子結構與紫外光電子譜 2.3.2 角分辨紫外光電子譜測量 2.3.3 錶麵態與UPS譜 2.3.4 UPS測量時的幾個問題 2.4 自鏇極化光電子譜 2.4.1 方法簡介 2.4.2 鐵磁性材料極化率 2.4.3 非磁性材料極化率 2.5 兩光子光發射譜 2.5.1 分子-電極界麵 2.5.2 2PPE工作原理 2.5.3 2PPE實驗觀測量 2.5.4 2PPE實驗裝置簡介 2.5.5 界麵電子結構與2PPE譜 2.6 反光電子譜 2.6.1 反光電子發射實驗 2.6.2 錶麵想象勢態 2.6.3 Ge能帶結構的完備錶徵 2.6.4 CO分子吸附態 2.6.5 金屬-半導體界麵態 2.7 X射綫吸收譜 2.7.1 固體中X射綫吸收和發射 2.7.2 近邊X射綫吸收精細結構譜 2.7.3 NEXAFS實驗 2.7.4 NEXAFS譜與空態結構 2.8 固體拉曼光譜簡介 2.8.1 拉曼光譜基本原理 2.8.2 激光拉曼譜儀 2.8.3 數據分析和RS闡釋 參考文獻3 碳質納米材料錶麵電子結構錶徵 3.1 碳質納米結構傢族叫 3.2 碳質薄膜特徵與sp2、sp3雜化鍵分析 3.2.1 拉曼光譜法 3.2.2 XPS分析 3.2.3 占有與未占有電子態SXEA測定 3.3 a-C:H薄膜狀態密度與sp2雜化碳原子空間結構 3.3.1 a-C:H薄膜結構的復雜性與電子態 3.3.2 a-C電極中C-H和C-O鍵問題 3.4 a-C薄膜中sp雜化鍵 3.4.1 a-C膜中sp雜化鍵測定 3.4.2 a-C膜中sp雜化鍵的穩定性 3.5 石墨電子結構 3.5.1 基礎知識 3.5.2 單晶石墨能帶結構ARUPS測量 3.5.3 C KVV俄歇綫形與層間軌道相互作用 3.5.4 結構缺陷與電子傳輸 3.5.5 石墨帶寬 3.5.6 石墨C sp2鍵修正與X射綫吸收譜 3.5.7 石墨n2態密度與C K邊XANES譜 3.6 類金剛石薄膜電子結構綜閤錶徵 3.6.1 EELS分析 3.6.2 XPS分析 3.6.3 D參數法 3.6.4 NEXAFS分析 3.6.5 UPS分析 3.7 金剛石薄膜幾個電參數分析 3.7.1 錶麵電阻率與拉曼譜 3.7.2 逸齣功與SKPM分析 3.7.3 摻硼金剛石半導體氘化與傳導特性轉換 3.8 富勒希電子結構錶徵 3.8.1 C60構型及其分子固體結構簡介 3.8.2 幾個原型富勒希分子固體UPS/EELS分析 3.8.3 雜原子富勒希電子結構測定 3.8.4 插入金屬富勒希電子結構測定 3.9 碳納米管 3.9.1 碳納米管幾何結構及其特徵參數 3.9.2 單壁碳納米管的電子結構及傳輸特性 3.9.3 單壁碳納米管電子結構測定 3.9.4 化學修篩SWCNT電子結構 參考文獻4 納米異質界麵電子結構分析 4.1 有機分子膜/金屬界麵電子結構 4.1.1 界麵電子結構類型 4.1.2 界麵電子結構UPS分析 4.1.3 界麵電子結構UPS與IPES組閤分析 4.1.4 有機分子/金屬界麵2PPE分析 4.2 SiO2/Si界麵電子結構分析 4.2.1 SiO2/Si界麵化學結構錶徵 4.2.2 SiO2/Si界麵電子結構錶徵 4.2.3 界麵電子結構參數與SiO2膜介電常數 4.3 負載金屬納米粒子的電子結構分析 4.3.1 負載金屬簇界麵電子結構光發射分析 4.3.2 負載金屬簇局域狀態密度STM/STS分析 4.3.3 負載金屬簇電子受激時的尺寸效應 4.3.4 強金屬載體相互作用(SMSI)分析 4.4 雙金屬錶麵電子結構分析 4.4.1 單層雙金屬樣品製備及分析條件 4.4.2 Ni/Pt(111)模型樣品錶麵結構錶徵 4.4.3 錶麵d帶中心 4.4.4 Ni/Pt(111)電子結構與錶麵化學 4.5 納米薄膜量子尺寸效應與光發射譜 4.5.1 引言 4.5.2 晶格匹配Ag/Au(111)和Au/Ag(111)體係 4.5.3 品格失配界麵光發射測量 4.5.4 原子平整界麵光發射譜 參考文獻5 納米半導體光電性質尺寸效應分析 5.1 納米Si帶隙量子尺寸效應補充說明 5.2 Ⅲ-Ⅴ族半導體量子點尺寸效應分析 5.2.1 InAs量子點帶隙與尺寸關係 5.2.2 InGaAs量子點帶隙尺寸效應和閤金化 5.2.3 InAs量子點逸齣功KFM測量 5.2.4 含InP量子點InCaP/GaAs異質體係電子結構錶徵 5.3 Ⅱ-Ⅵ族化閤物半導體納米晶尺寸效應分析 5.3.1 CdSe納米晶光學特性尺寸效應 5.3.2 CdTe納米晶電子結構XES分析 5.3.3 CdS/CdTe界麵價帶補償XPS分析 5.3.4 CdS納米晶帶結構尺寸效應 5.4 Cu2S納米棒的電子結構PD-XAS分析 參考文獻
· · · · · · (收起)