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数字系统测试和可测性设计
☆☆☆☆☆
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Miron Abramovici 作者
清华大学出版社
译者
2004-1-1 出版日期
676 页数
65.00 价格
平装(无盘)
国外大学优秀教材 微电子类系列 丛书系列
9787302077473 图书编码

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发表于2024-11-25

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这是一本1991年的书，内容比较老了，可以建立些基本概念吧。

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数字系统测试和可测性设计 在线电子书 图书描述

Digital Systems Testing and Testable Design一书，是全美大学生和研究生优秀教材，比较系统地介绍了结构测试的理论和方法、可测性设计理论和度量方法、测试数据的处理及简化的理论和方法以及智能芯片(处理器、数字信号处理器和自动机等)测试理论和方法等。该书共有15章，分为3部分。前8章为第一部分，主要介绍数字系统、数字微系统芯片缺陷的来源、逻辑描述的方法——故障的建模、故障模拟、测试单固定故障、测试桥接故障、智能数字系统的功能测试及其范围等；第9章～第14章是第二部分，主要介绍数字系统的可测性设计理论和方法、建内自测试BIST测试数据压缩方法等现代测试理论和方法；第15章足第三部分，主要讨论系统测试的方法。该书概念清晰层次分明、定义和证明准确、算法推导和阐述简练。每章附有大量练习题可帮助读者对于概念的消化吸收。

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