VLSI测试方法学和可测性设计

VLSI测试方法学和可测性设计 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:电子工业出版社
作者:雷绍充
出品人:
页数:300
译者:
出版时间:2005-1-1
价格:29.80元
装帧:平装(无盘)
isbn号码:9787121003790
丛书系列:
图书标签:
  • VLSI测试
  • 可测性设计
  • DFT
  • 测试方法学
  • 集成电路测试
  • 芯片测试
  • 数字电路测试
  • 故障诊断
  • 测试向量生成
  • 边界扫描
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具体描述

好的,这是一本关于集成电路物理设计、版图实现与验证的专业技术书籍的详细简介。 --- 图书名称: 《超大规模集成电路物理实现与验证:从 RTL 到 GDSII 的精细化控制》 作者: [此处可填写真实作者姓名或专业背景] 本书简介 在当前集成电路设计领域,随着晶体管密度的不断攀升,芯片性能、功耗和面积(PPA)的优化已不再仅仅依赖于前端的逻辑设计,而是越来越依赖于后端物理实现阶段的精细化控制和验证。本书《超大规模集成电路物理实现与验证:从 RTL 到 GDSII 的精细化控制》是一本面向资深IC设计工程师、版图工程师以及相关领域研究人员的专业技术手册,系统地阐述了现代SoC(System-on-Chip)物理实现流程的各个关键阶段、面临的挑战以及前沿的优化技术。 本书深入剖析了从描述级网表(RTL)到最终制造数据(GDSII)转化过程中,涉及到的所有核心物理设计环节,并着重强调了跨越设计周期不同阶段的协同工作模式和验证策略。 第一部分:设计输入与基础环境建立 本部分首先为读者打下坚实的物理设计基础。 第1章:物理设计流程概述与设计规划 本章详细介绍了现代IC设计流程的全景图,特别是物理实现阶段在整个项目生命周期中的定位。重点讨论了设计规格(Design Specification)的分解,包括时序目标(Timing Targets)、功耗预算(Power Budget)和面积约束(Area Constraints)的设定。内容涵盖了如何根据工艺节点(如7nm、5nm及以下)的特性,制定出合理的物理实现策略,如选择合适的P&R工具、库文件管理和约束文件(SDC/UPF)的初步规划。 第2章:标准单元库与技术文件解析 深入探讨了标准单元库(Standard Cell Library)的构成,包括逻辑单元、I/O 单元和特殊功能单元(如Latch、Memory Interface等)的特性。重点讲解了工艺、电压、温度(PVT)模型的精确使用,以及如何理解和应用物理设计所需的关键技术文件,如LEF/LIB文件、Foundry-specific Technology Files等,为后续的布局布线奠定精确的数据基础。 第二部分:布局规划与宏单元集成 布局(Placement)是物理实现中决定芯片整体性能的基石。本部分聚焦于如何高效、合理地安排芯片上的所有实例。 第3章:芯片尺寸确定与电源网络规划(Power Planning) 详述了芯片封装尺寸的确定、Floorplanning的流程与方法论。重点阐述了电源和地(VDD/VSS)网络的规划,包括环(Ring)和条(Stripe)的宽度、间距、层级的选择,以及如何根据电流密度和IR Drop(电压降)分析结果来优化电源网络结构,确保全局和局部的电压稳定性。 第4章:宏单元与IP的精确布局集成 本章专注于处理大型IP模块(如CPU核、SerDes、高速缓存等)的布局。探讨了如何处理预布局(Pre-placement)的需求,包括模块间的间距要求(Keep-out Zone)、缓冲区的放置、以及如何通过精确的I/O端口对齐实现与其他逻辑模块的最佳连接,最大限度地减少长线效应和拥塞。 第5章:逻辑单元的初步布局与时序驱动的优化 详细介绍了基于网表(Netlist)的逻辑单元(Standard Cells)的初步布局策略。讨论了如何利用时序信息(Timing Constraints)来指导布局,例如,如何通过局部重定位(Local Repositioning)来优化关键路径的时延,以及如何处理层次化设计中的模块边界效应。 第三部分:时钟树综合与精细化布线 时钟网络和信号互连是决定芯片速度和信号完整性的核心要素。 第6章:时钟树综合(Clock Tree Synthesis, CTS)的深度解析 CTS是物理实现中最具挑战性的环节之一。本章系统地介绍了时钟网络的构建目标(最小化时钟偏差Skew和最大化时钟峰度峰谷差(Insertion Delay Variation))。深入探讨了H-tree、Mesh等主流时钟架构的原理,以及如何利用缓冲器(Buffer)和扇出单元(H-tree Driver)进行精确的时钟延迟控制和去偏处理。同时,讲解了多时钟域(Multi-clock Domain)设计的特殊处理方法。 第7章:全局布线与详细布线(Global Routing & Detailed Routing) 从宏观的全局布线到微观的详细布线,本章详述了布线资源的分配和竞争解决。重点讲解了布线拥塞(Congestion)的识别与缓解技术,如Via的优化放置、金属层选择策略。对于后期的工艺规则检查(DRC)和设计规则检查(LVS)所要求的最小间距、线宽等规则,如何在详细布线阶段严格遵守。 第8章:信号完整性(SI)与电磁兼容性(EMC)的布线优化 随着频率的提高,串扰(Crosstalk)、电迁移(Electromigration, EM)成为关键问题。本部分详细介绍了如何通过布线技巧,如线宽控制、间距增加(Shielding)、耦合长度限制等手段,来保证信号的完整性。对于高速信号线,还需考虑特性阻抗的匹配。 第四部分:功耗与良率导向的设计优化 现代设计越来越关注功耗管理和制造良率。 第9章:动态与静态功耗的优化技术 在布局布线阶段,通过单元的选择和重定位来降低功耗。本章详细讨论了低功耗单元(Low Power Cells)的应用、电源门控(Power Gating)的实现,以及电源开关(Power Switch)的布局策略。同时,讲解了如何利用设计规则(如限制翻转活动)来控制动态功耗。 第10章:IR Drop分析与电源网络的物理验证 深入探讨了静态(Static IR)和动态(Dynamic IR)电压降分析的流程与工具使用。阐述了如何通过仿真结果指导电源网络的最终完善,包括添加去耦电容(Decoupling Capacitors)的最佳位置和数量的确定,以及如何确保芯片在最恶劣的PVT条件下仍能稳定运行。 第11章:设计收敛与签核(Sign-off)流程 本部分是物理实现流程的最终闭环。涵盖了从布局布线完成到流片前的所有关键签核步骤: 时序签核(Static Timing Analysis, STA): 涵盖Setup/Hold检查、OCV/AOCV/POCV等高级时序模型的应用与验证。 版图验证(Physical Verification): 详细介绍DRC(设计规则检查)、LVS(版图对原理图一致性检查)、ERC(电气规则检查)的执行和修复流程。 功耗签核: 最终的IR Drop和EM分析。 第五部分:先进工艺节点的挑战与展望 第12章:FinFET/GAA工艺下的物理实现特点 讨论了进入纳米级工艺节点后面临的新挑战,如亚阈值泄漏的增加、电迁移效应的恶化、以及设计规则的复杂性。重点介绍了多重曝光(Multiple Patterning)对物理设计的影响,以及如何通过设计中心化(Design-for-Manufacturing, DFM)来提高良率。 结论: 本书旨在提供一套完整、可操作的物理实现方法论,帮助工程师驾驭现代EDA工具,有效应对从RTL到GDSII转换过程中的所有技术难题,最终交付出高性能、低功耗、高可靠性的集成电路芯片。本书的深度和广度,使其成为IC物理设计工程师案头必备的实用参考书。

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