国产彩电保护电路原理与维修 第二分册 康佳 创维 熊猫 乐华 金星 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

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出版者:中国水利水电

作者:孙德印//孙铁骑

出品人:

页数:523

译者:

出版时间:2010-3

价格:59.00元

装帧:

isbn号码:9787508472850

丛书系列:

图书标签:

• 彩电维修
• 保护电路
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• 金星
• 电子技术
• 电路原理
• 家用电器

《现代电子元器件实用手册与故障查找指南》 书籍概要： 本书是一部全面、深入、面向实践的电子元器件技术手册与故障诊断权威指南，旨在为电子工程师、维修技术人员以及电子发烧友提供一个集理论知识、元器件参数查询与实际故障排除方法于一体的综合性参考工具。全书内容覆盖了当前主流电子设备中使用的各类元器件，并结合大量实际案例，系统阐述了元器件的工作原理、关键参数解读、可靠性分析以及在电路中常见的失效模式与检测方法。本书尤其侧重于从“元器件层面”理解整机故障的根源，是提升电子设备维修与设计水平不可或缺的案头必备书籍。 内容结构与特色： 全书共分为七大部分，详细阐述了从基础元件到复杂集成电路的广阔领域： 第一部分：基础无源元件的深度解析 本部分聚焦于电阻器、电容器和电感器这三大基础元件。 电阻器（Resistors）： 详细分类介绍了碳膜、金属膜、线绕、厚膜与薄膜电阻的结构特点、精度等级、温度系数（TCR）的实际影响。特别辟出章节讲解了精密电阻在精密测量电路中的应用，以及大功率负载电阻的热设计考量。对于可变电阻（电位器、可调电阻），提供了不同阻值范围和机械寿命的选型标准。 电容器（Capacitors）： 全面覆盖了电解电容（铝电解、钽电解）、陶瓷电容（MLCC、CBB）、薄膜电容（聚丙烯、聚酯）和云母电容。重点解析了等效串联电阻（ESR）、等效串联电感（ESL）对高频性能的影响。深入探讨了电解电容的寿命衰减模型、鼓包与漏液的检测标准，以及MLCC在电源滤波电路中的布局技巧。 电感器与变压器（Inductors & Transformers）： 阐述了空心、铁氧体、绕线电感的工作特性。重点讲解了开关电源中高频变压器的匝数比、磁芯材料（如PC40、3F3）对效率的影响，以及变压器漏感、分布电容的抑制方法。 第二部分：半导体器件的原理与应用精进 本部分是本书的重点之一，详细梳理了各类半导体器件的特性曲线与应用电路。 二极管家族： 涵盖了标准恢复、快恢复、肖特基（Schottky）、齐纳（Zener）、瞬态电压抑制（TVS）和光耦（Optocouplers）。详细对比了不同二极管的导通压降、反向恢复时间（trr）及其在整流、钳位、保护电路中的具体应用。 晶体管（BJT与MOSFET）： 对双极性晶体管（BJT）和金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）的工作区划分、跨导（gm）、导通电阻（RDS(on)）进行了深入比较。重点讲解了MOSFET的栅极驱动设计，如何避免米勒效应导致的开关损耗，以及功率MOSFET在电机驱动和DCDC转换器中的热管理。 可控硅器件（SCR, TRIAC）： 阐述了晶闸管在交流调光、固态继电器（SSR）中的应用，以及触发电路的设计要点。 第三部分：集成电路功能模块详解 本部分专注于现代电子设备中最核心的集成电路（IC）功能模块的分析与选型。 模拟IC基础： 详述了运算放大器（Op-Amps）的输入偏置电流、失调电压、带宽限制等参数，并分析了其在有源滤波器、仪表放大器中的应用。详细介绍了比较器、电压基准源（Voltage Reference）的精度要求。 电源管理IC（PMIC）： 全面解析了线性稳压器（LDO）的噪声抑制能力、开关稳压器（Buck/Boost/SEPIC）的拓扑结构、工作频率选择和电流模式/电压模式控制的差异。 时钟与逻辑IC： 介绍了晶振、锁相环（PLL）在频率合成中的作用，以及标准CMOS和TTL逻辑系列的电平兼容性问题。 第四部分：传感器、执行器与接口元件 关注电路与物理世界的接口部分。 传感器原理： 温度传感器（热敏电阻、RTD、集成温度传感器）、光电传感器（光敏电阻、光电二极管/三极管）的工作原理与线性化处理。 执行器驱动： 继电器（接触点材质、寿命）、步进电机驱动电路和直流无刷电机（BLDC）的方波/正弦波驱动方式。 输入/输出接口： 详细介绍了RS-232、RS-485、I2C、SPI等常用通信接口芯片的驱动能力与抗干扰措施。 第五部分：元器件故障的系统化诊断与测试 本部分是本书的实践核心，提供了大量实用、可操作的故障排除流程。 测试仪器应用： 深入讲解了数字万用表、LCR测试仪、示波器（包括探头补偿与触发设置）在诊断特定元件失效时的最佳设置。强调了如何利用示波器观察波形异常来定位开关电源的振荡或欠驱动问题。 元件的“离线/在线”测量方法： 针对电容的ESR、二极管的PN结特性、晶体管的开关速度等难以仅靠万用表测量的参数，提供了专业的测试方法和判断标准。 常见失效模式分析： 归纳了因过热导致的元件“开路/短路”、因静电放电（ESD）导致的IC“闩锁”或失效、以及因浪涌电流导致的保护元件熔断等经典案例。 第六部分：印刷电路板（PCB）与焊接工艺的质量控制 强调了元件在电路板上的表现与封装工艺的关系。 PCB设计对元件的影响： 分析了过孔设计、走线宽度对大电流元件散热的影响，以及高频电路中信号完整性（SI）对高频元件性能的制约。 焊接缺陷识别： 图文并茂地展示了虚焊、冷焊、桥接、焊锡球等常见焊接不良现象，并提供了针对SMD和通孔元件的返修技巧。 第七部分：元器件参数手册索引与快速查询表 提供常用系列型号的电流承载能力、耐压等级、工作温度范围的交叉参考表，帮助读者在紧急情况下快速定位替代元件或验证现有元件的规格。 本书目标读者： 本书适合于所有从事电子产品研发、生产线检测、售后维修及技术培训的人员。特别是对于需要进行复杂电路板级故障分析、提升维修效率和电路设计可靠性的技术人员而言，是极具价值的工具书。它将理论知识与实际故障现象紧密结合，帮助读者建立起对电子元件“会用、会测、会修”的全面认知体系。

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