材料分析方法

材料分析方法 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:机械工业
作者:周玉 编
出品人:
页数:344
译者:
出版时间:2011-6
价格:42.00元
装帧:
isbn号码:9787111342304
丛书系列:
图书标签:
  • 材料科学
  • 材料学
  • 专业书
  • 材料科学
  • 分析方法
  • 物理分析
  • 化学分析
  • 扫描电镜
  • 能谱分析
  • X射线衍射
  • 红外光谱
  • 热分析
  • 材料表征
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具体描述

《材料分析方法(第3版)》主要包括材料X射线衍射分析和材料电子显微分析两大部分。书中介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。其内容包括:X射线物理学基础、X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法、物相分析及点阵参数精确测定、宏观残余应力的测定、多晶体织构的测定、电子光学基础、透射电子显微镜、电子衍射、晶体薄膜衍衬成像分析、高分辨透射电子显微术、扫描电子显微镜、电子背散射衍射分析技术、电子探针显微分析、其他显微结构分析方法及实验指导。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。

《材料分析方法(第3版)》可以作为材料科学与工程学科的本科生和研究生教材或教学参考书,也可供材料成形及控制工程等其他专业师生和从事材料研究及分析检测方面工作的技术人员学习参考。

好的,为您撰写一本名为《材料分析方法》的图书简介,内容将详细阐述一本涵盖广泛材料科学分析技术、但不涉及您特定书名的图书应有的内容结构和深度。 --- 图书名称: 现代材料表征与性能探究 图书简介: 引言:跨越微观至宏观的材料理解之道 在当代科学技术飞速发展的浪潮中,新材料的研发与应用已成为推动产业升级的核心驱动力。无论是航空航天、生物医学、新能源技术,还是信息电子领域,材料的性能与其内部结构、化学组成及微观形貌之间存在着密不可分的联系。理解这种联系,是实现材料设计、控制制造过程、预测使用寿命的关键。《现代材料表征与性能探究》一书,正是一部旨在系统梳理和深入剖析当前材料科学领域主流的、前沿的分析与表征技术的专业参考著作。 本书的编写理念在于提供一个全面、深入且具有高度实践指导意义的知识体系。它不仅停留在对单一仪器的原理性介绍,更侧重于分析方法的选择依据、数据解释的科学逻辑以及如何将多学科的表征手段有机结合,以解决复杂的工程和科学问题。 第一部分:基础结构与形貌的解析 本部分聚焦于材料的宏观形态、微观晶体结构以及表面形貌的表征技术,这是所有深入分析的基石。 第一章:X射线衍射(XRD)技术精要 本章详尽阐述了X射线与物质相互作用的基本物理原理,重点介绍了粉末衍射(PXRD)和单晶衍射(SCXRD)在确定材料晶相、晶格常数、结晶度、粒径分布及相纯度方面的应用。特别加入了针对复杂多相体系(如金属间化合物、高熵合金)的衍射峰精细分析和结构解析流程。同时,探讨了原位XRD在实时监测相变过程中的关键技术难点与解决方案。 第二章:扫描电子显微镜(SEM)与透射电子显微镜(TEM)的深度应用 SEM章节详细讲解了二次电子、背散射电子的成像机制,并深入讨论了高分辨背散射电子像(HR-BSE)在区分轻重元素和晶体取向上的优势。重点突出了电子束微区分析(EDS/WDS)在元素定性和定量分析中的精确校准方法,包括轻元素检测的挑战与应对策略。 TEM部分则系统介绍了明场、暗场成像、高分辨透射电子显微镜(HRTEM)的成像理论(如Z-对比技术),以及衍射花样分析在晶格缺陷(如位错、堆垛层错)识别中的应用。此外,还收录了先进的环形暗场像(ADF)和球差校正TEM(STEM)在原子尺度分析中的最新进展。 第三章:表面形貌与粗糙度分析 本章关注于材料表面的微纳尺度形貌研究。原子力显微镜(AFM)的成像模式(接触、轻敲、非接触)的适用性分析是核心内容。深入探讨了AFM在测量表面粗糙度(Ra, Rq等参数)、表面粘弹性、磁力成像(MFM)以及电势成像(EFM)方面的定量分析方法。同时,介绍了光学轮廓仪和白光干涉仪在快速三维形貌重建中的优势。 第二部分:化学成分与电子态的探究 材料的功能性根植于其原子尺度的化学环境和电子结构。本部分专注于那些能够揭示材料“是什么”和“如何反应”的核心光谱学和电子谱学技术。 第四章:光电子能谱学(XPS)与俄歇电子能谱(AES) XPS部分详细阐述了光电效应的物理基础,重点在于如何通过峰位移动(化学位移)确定元素的氧化态、配位数和化学环境。书中提供了详尽的谱图解析实例,涵盖了金属氧化物、半导体掺杂和有机材料的表面化学分析。AES章节则侧重于其高空间分辨率特性在薄膜界面分析中的应用,以及如何通过特征俄歇参数来辅助物相判断。 第五章:能量与波动的光谱分析 本章汇集了多种基于光与物质相互作用的分析手段。拉曼光谱(Raman)和红外吸收光谱(FTIR)被用于分子振动、晶格振动和化学键的识别,重点区分了显着峰和弱峰的归属,并讨论了表面增强拉曼散射(SERS)在痕量分析中的应用。此外,对紫外-可见吸收光谱(UV-Vis)在能带结构和光吸收特性评估中的作用进行了系统的阐述。 第六章:离子探针与质谱技术 二次离子质谱(SIMS)因其极高的灵敏度(ppb级别)和优异的深度剖析能力,被视为痕量元素分析的“金标准”。本章详细解析了不同离子源(如 $mathrm{Cs}^+$、 $mathrm{O}_2^+$)的选择对分析结果的影响,并介绍了聚焦离子束(FIB)与SIMS联用的深度剖析策略。傅里叶变换离子回旋共振质谱(FT-ICR MS)则被引入,用以分析复杂聚合材料或有机物残留的精确分子量和结构信息。 第三部分:功能性与动力学性能的关联 材料的价值体现在其宏观力学、热学、电学和磁学性能。本部分强调如何通过结构和化学信息,预测和解释这些功能性指标。 第七章:热分析技术及其应用拓展 差示扫描量热法(DSC)、热重分析(TGA)和动态热机械分析(DMA)是材料热稳定性与转变行为研究的核心工具。本书详细区分了DSC在玻璃化转变、熔融、结晶过程中的定量分析标准,并结合TGA分析了材料的热分解路径和残炭率。DMA则被深入讲解为理解聚合物和复合材料模量随温度和频率变化的有效手段。 第八章:力学性能与断口形貌的关联 本章着重于材料的宏观力学测试(拉伸、压缩、硬度)与微观断裂行为的耦合研究。除了标准的应力-应变曲线分析外,重点阐述了疲劳测试(S-N曲线)和蠕变测试的实验规范与数据处理。断裂表面形貌(Fractography)的分析是本章的亮点,通过SEM观察到的裂纹特征(如韧性、脆性、疲劳条纹)如何反推材料的受力历史和微观结构缺陷。 第九章:电学与磁学性能的电化学耦合分析 针对能源材料和电子器件,本章讨论了阻抗谱分析(EIS)在界面电荷转移、双电层和介电弛豫过程中的应用。循环伏安法(CV)和恒电位/恒流技术(GCD)被系统介绍,用于评估电池和电容器的电化学活性和稳定性。磁性材料的分析则涵盖了振动样品磁力仪(VSM)测量矫顽力、剩磁和磁化强度的操作细节。 结语:数据融合与未来展望 《现代材料表征与性能探究》的最终目标是培养材料科学工作者具备“多维信息集成”的能力。每一章的案例分析都强调,单一技术的局限性必须通过与其他技术的交叉验证来弥补。本书提供了大量跨学科分析的“叙事线索”,指导读者如何从一个复杂的材料问题出发,构建一套完整的、逻辑自洽的表征方案,最终实现对材料行为的精准控制与设计。本书适合于材料科学、化学、物理学、机械工程及相关专业的高年级本科生、研究生以及致力于新材料研发和质量控制的工程技术人员参考使用。 ---

作者简介

周玉,1955年7月生。博士,教授,中国工程院院士。1982年1月~1989年3月获哈尔滨工业大学金属材料及工艺系学士、硕士和博士学位。曾留学于日本东京大学和英国利兹大学。现任哈尔滨工业大学教授、博士生导师、副校长。兼任中国机械工程学会理事;中国硅酸盐学会特陶分会理事长;国家自然基金委员会工程与材料学部专家咨询委员会委员;教育部学科发展与专业设置专家委员会委员:教育部高等学校教学指导委员会委员;全国工程教育专业认证专家委员会委员;中国高教学会常务理事等学术兼职。主要从事陶瓷的相变与韧化、陶瓷复合材料制备、组织结构与性能表征、抗热震与耐烧蚀性能及其在航天防热部件上应用等研究。发明了新型防热陶瓷复合材料,并成功应用于航天型号。获国家技术发明二等奖1项,省部级科技一、二等奖7项;获国家发明专利5项;出版专著及教材5部。获全国高校优秀教材一等奖1项,获国家优秀教学成果二等奖1项;发表SCI、EI收录主要学术论文300余篇。已培养博士、硕士各30余名。曾获国家杰出青年基金资助和国家“有突出贡献的中青年专家”、“中国青年科学家奖”、航天总公司“航天奖”等荣誉称号。

2009年当选为中国工程院院士。

目录信息

第3版前言第2版前言第1版前言绪论第一篇 材料X射线衍射分析 第一章 X射线物理学基础 第一节 X射线的性质 第二节 X射线的产生及X射线谱 第三节 X射线与物质的相互作用 习题 第二章 X射线衍射方向 第一节 晶体几何学简介 第二节 布拉格方程 第三节 X射线衍射方法 习题 第三章 X射线衍射强度 第一节 多晶体衍射图相的形成 第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数 第三节 洛伦兹因数 第四节 影响衍射强度的其他因数 第五节 多晶体衍射的积分强度公式 习题 第四章 多晶体分析方法 第一节 德拜-谢乐法 第二节 其他照相法简介 第三节 X射线衍射仪 习题 第五章 物相分析及点阵参数精确测定 第一节 定性分析 第二节 定量分析 第三节 点阵参数的精确测定 第四节 非晶态物质及其晶化过程的X射线衍射分析 习题 第六章 宏观残余应力的测定 第一节 物体内应力的产生与分类 第二节 X射线宏观应力测定的基本原理 第三节 宏观应力测定方法 第四节 X射线宏观应力测定中的一些问题 习题 第七章 多晶体织构的测定 第一节 极射赤面投影法 第二节 织构的种类和表示方法 第三节 丝织构指数的测定 第四节 极图的测定 第五节 反极图的测定 习题第二篇 材料电子显微分析 第八章 电子光学基础 第一节 电子波与电磁透镜 第二节 电磁透镜的像差与分辨率 第三节 电磁透镜的景深和焦长 习题 第九章 透射电子显微镜 第一节 透射电子显微镜的结构与成像原理 第二节 主要部件的结构与工作原理 第三节 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定 习题 第十章 电子衍射 第一节 概述 第二节 电子衍射原理 第三节 电子显微镜中的电子衍射 第四节 单晶体电子衍射花样标定 第五节 复杂电子衍射花样 习题 第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析 第一节 概述 第二节 薄膜样品的制备方法 第三节 衍射衬度成像原理 第四节 消光距离 第五节 衍衬运动学 第六节 衍衬动力学简介 第七节 晶体缺陷分析 习题 第十二章 高分辨透射电子显微术 第一节 高分辨透射电子显微镜的结构特征 第二节 高分辨电子显微像的原理 第三节 高分辨透射电子显微镜在材料科学中的应用 习题 第十三章 扫描电子显微镜 第一节 电子束与固体样品作用时产生的信号 第二节 扫描电子显微镜的构造和工作原理 第三节 扫描电子显微镜的主要性能 第四节 表面形貌衬度原理及其应用 第五节 原子序数衬度原理及其应用 习题 第十四章 电子背散射衍射分析技术 第一节 概述 第二节 电子背散射衍射技术相关晶体学取向基础 第三节 电子背散射衍射技术硬件系统 第四节 电子背散射衍射技术原理及花样标定 第五节 电子背散射衍射技术成像及分析 第六节 电子背散射衍射技术数据处理 习题 第十五章 电子探针显微分析 第一节 电子探针仪的结构与工作原理 第二节 电子探针仪的分析方法及应用 习题 第十六章 其他显微结构分析方法 第一节 离子探针显微分析 第二节 低能电子衍射分析 第三节 俄歇电子能谱分析 第四节 场离子显微镜与原子探针 第五节 扫描隧道显微镜与原子力显微镜 第六节 X射线光电子能谱分析 第七节 红外光谱 第八节 激光拉曼光谱 第九节 紫外-可见吸收光谱 第十节 原子发射光谱 第十一节 原子吸收光谱 第十二节 核磁共振 第十三节 电子能量损失谱 第十四节 扫描透射电子显微镜 习题实验指导 实验一 单相立方系物质X射线粉末相计算 实验二 用X射线衍射仪进行多晶体物质的相分析 实验三 宏观残余应力的测定 实验四 金属板织构的测定 实验五 透射电子显微镜结构原理及明暗场成像 实验六 选区电子衍射与晶体取向分析 实验七 扫描电子显微镜的结构原理及图像衬度观察 实验八 电子背散射衍射技术的工作原理与菊池花样观察及标定 实验九 电子背散射衍射技术的数据处理及其分析应用 实验十 电子探针结构原理及分析方法附录 附录A 物理常数 附录B 质量吸收系数μl/ρ 附录C 原子散射因数f 附录D 各种点阵的结构因数F2HKL 附录E 粉末法的多重性因数Phkl 附录F 角因数1+cos22θsin2θcosθ 附录G 德拜函数(x)x+14之值 附录H 某些物质的特征温度Θ 附录I 12cos2θsinθ+cos2θθ的数值 附录J 应力测定常数 附录K 立方系晶面间夹角 附录L 常见晶体标准电子衍射花样 附录M 立方与六方晶体可能出现的反射 附录N 特征X射线的波长和能量表参考文献
· · · · · · (收起)

读后感

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用户评价

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这本书的语言风格简直是一股清流,充满了鲜活的生命力,完全没有传统学术著作那种令人昏昏欲睡的腔调。作者似乎有一种魔力,能将原本晦涩难懂的原理,用极其流畅且富有画面感的文字描绘出来。例如,在解释某个复杂的相互作用机制时,作者运用了大量关于生态系统和城市交通流的比喻,我甚至能“看”到那些分子或粒子是如何相互影响、协同演化的。这种描述方式极大地降低了阅读的心理门槛,让我这个主要关注非物理科学领域的人也能迅速抓住核心要义。更难能可贵的是,作者在行文间流露出一种对知识的敬畏和对探索过程的热情,这种感染力是任何干巴巴的说明文字都无法比拟的。书中的注释部分也做得非常用心,不仅引用了经典文献,还常常附上一些作者的个人思考或对前沿进展的评论,这些“花絮”虽然不是正文,但却极大地丰富了阅读的层次感和趣味性,让人忍不住想一探究竟。

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读完这本书,我感觉自己的知识结构被强行拉伸和重塑了一番,虽然它似乎聚焦于某个特定领域,但其中蕴含的逻辑推理和批判性思维的训练,才是最宝贵的财富。作者在论述某个核心观点时,往往会先列举一系列看似相互矛盾的证据,然后层层剥茧,最终给出一个令人信服的结论,这种“先破后立”的叙事手法极具张力。特别是关于“观察者效应”的讨论,书中并未直接引用量子力学的术语,而是通过对历史案例的细致剖析,阐释了测量行为本身如何不可避免地影响被测对象的状态,这让我深刻反思了自己在日常工作中进行效果评估时可能存在的认知偏差。书中的语言风格非常犀利,夹杂着一些独到的见解和略带戏谑的反问,读起来一点也不觉得乏味。唯一的遗憾是,某些章节的论证链条稍微有些跳跃,可能需要读者具备一定的背景知识才能完全跟上作者的思路,但瑕不掩瑜,它无疑是一部能激发深度思考的佳作。

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坦率地说,这本书的价值远超出了其定价。它不仅仅是一本知识的载体,更像是一场精心策划的智力探险。虽然我对具体材料的性能测试流程不甚了解,但书中所体现出的严谨的科学方法论,才是其真正的精髓所在。作者在构建每一个论点时,都展现了近乎苛刻的逻辑自洽性,仿佛在搭建一座精密无误的数学模型。书中对于“误差源识别与量化”的探讨,虽然背景是特定领域,但其分解问题的思路——从宏观现象到微观机制的层层拆解,以及对不确定性的系统性评估,对于任何定量研究都是普适且极其重要的指导。我尤其赞赏作者在结论部分提出的未来展望,他没有给出简单的答案,而是提出了一系列更具挑战性的开放性问题,这无疑是对读者智慧的尊重,也是对科学发展方向的深刻洞察。合上书本时,我感受到的不是知识的填鸭式灌输,而是一种被赋予了更强探索能力的满足感。

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这本书的装帧设计实在让人眼前一亮,封面采用了一种低饱和度的蓝灰色,配上烫金的字体,散发出一种沉稳又现代的气息。初次翻开时,我最先注意到的是它的排版布局,字体大小适中,行间距的处理得非常人性化,即便是长时间阅读,眼睛也不会感到明显的疲劳。内容上,虽然我手头拿的不是关于材料分析方法的专业书籍,但这本书对其他领域知识的梳理和整合能力,同样展现了作者深厚的学术功底。比如,其中关于复杂系统建模的章节,作者似乎没有直接提及具体的材料测试流程,而是巧妙地引入了信息论的视角来解释数据的可靠性,这种跨学科的思维碰撞,对于我正在研究的工程优化问题提供了全新的思路。书中的图表制作精良,色彩搭配和谐,即便是复杂的流程图也能一目了然,这在很多同类书籍中是少见的。尤其是对一些核心概念的解释,作者使用了大量的类比和生活化的例子,使得那些原本枯燥的理论变得生动起来,这对于非专业背景的读者来说,无疑是一大福音。总的来说,这本书的阅读体验堪称一流,从视觉到内容的深度,都体现了极高的制作水准。

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这本书的学术深度是毋庸置疑的,但更让我欣赏的是它在理论与实践之间的平衡把握。在我看来,很多理论著作的通病在于过度沉溺于公式推导和抽象概念,使得普通从业者望而却步。然而,这本书却做得非常出色,它似乎有一条看不见的线索,将那些高深的理论巧妙地锚定在实际的应用场景之中。虽然我关注的重点不在于材料的微观结构分析,但书中关于数据噪声处理的章节,其数学基础和滤波算法的介绍,与我目前处理的信号处理问题有着异曲同工之妙。作者在介绍完一种新方法后,总会紧接着用一个详实的案例来佐证其有效性,这个案例的选取非常贴合工业界的痛点,而非虚构的理想情景。这种脚踏实地的写作态度,让整本书充满了可靠性和可信度。翻阅过程中,我多次停下来,试图在自己的工作领域中寻找对应的应用点,这本书成功地拓宽了我解决问题的思维边界,提供了不止一种解决问题的工具箱。

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T T去你妹的!

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讲的很详细很全面。

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讲的很详细很全面。

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