电子技术基础考试参考书 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

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出版者:中央广播电视大学出版

作者:《专升本(非师范类)入学考试参考丛书

出品人:

页数:201

译者:

出版时间:1997-10

价格:20.00元

装帧:

isbn号码:9787304015015

丛书系列:

图书标签:

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好的，这是一份关于一本不包含《电子技术基础考试参考书》内容的图书简介。这份简介将专注于介绍一本假想的、内容完全不同的图书。 --- 书名：《现代集成电路设计与实践：从CMOS到FinFET的演进》 内容概述： 本书旨在为电子工程领域的研究人员、高级工程师以及对前沿集成电路（IC）技术有深入追求的读者提供一份全面而深入的指南。它聚焦于现代半导体器件物理、先进工艺节点下的电路设计挑战、以及当前主流的集成电路设计流程与方法论。本书将不涉及任何关于基础电子理论、分立元件特性、或传统考试复习内容的讨论。 第一部分：器件物理与先进工艺节点 本部分将深入探讨半导体器件物理学的最新发展，特别是随着摩尔定律的推进，传统MOSFET面临的物理极限。我们将详细解析亚微米尺度下晶体管的工作原理，包括载流子输运机制、短沟道效应（SCE）、阈值电压控制的复杂性，以及热效应（Hot Carrier Injection, HCI）对器件寿命的影响。 随后，我们将全面介绍FinFET（鳍式场效应晶体管）结构的兴起及其相对于平面CMOS的优势。重点分析三维结构如何实现更好的静电控制能力，从而在更小的尺寸上维持可接受的亚阈值摆幅（SS）和漏电流特性。书中将包含FinFET的3D建模、工艺制造流程的简化概述，以及其在提升性能和降低功耗方面的具体工程数据分析。 此外，我们还将展望下一代晶体管技术，如Gate-All-Around (GAA) 结构，探讨其在实现2nm及以下节点技术上的潜力与设计上的新挑战。 第二部分：低功耗与高可靠性电路设计 在移动计算和物联网（IoT）设备日益普及的今天，功耗管理已成为IC设计的核心议题。本部分将集中于超低功耗电路设计技术。内容包括： 1. 电压调控与频率调控（DVFS）： 详细阐述动态电压和频率调节算法在不同工作负载下的优化策略，包括功耗-性能曲线的构建与分析。 2. 电源门控与时钟门控： 深入探讨如何在设计中实现精确的晶体管级电源隔断（Power Gating）和时钟树的动态关闭，以最小化静态和动态漏电。我们将使用具体的RTL级代码示例和仿真结果来验证这些技术的有效性。 3. 亚阈值偏置设计： 研究在远低于标准电压下工作的电路设计挑战，包括如何补偿工艺和温度变化带来的阈值电压漂移，以及如何设计具有足够噪声容限的逻辑单元。 在可靠性方面，本书将重点分析随机缺陷（Stochastic Defects）和老化效应（Aging Effects）对IC寿命的影响。内容涉及NBTI（负偏置温度不稳定性）和HCI的量化模型，以及在设计阶段如何通过冗余设计、电压裕度分配等方式提高芯片的长期工作可靠性。 第三部分：先进数字IC设计流程与自动化 本部分聚焦于现代ASIC（专用集成电路）和SoC（系统级芯片）设计中必须掌握的后端设计（Physical Design）流程。我们摒弃基础的逻辑门级分析，直接进入到自动化工具驱动下的实现流程。 1. 综合与时序收敛： 详细介绍逻辑综合（Logic Synthesis）的原理，重点阐述如何使用约束文件（SDC）来精确控制设计目标。深入分析静态时序分析（STA）的原理、关键路径的识别、以及如何通过布局规划（Floorplanning）和布线策略来解决建立时间（Setup Time）和保持时间（Hold Time）违例。 2. 功耗实现与签核： 介绍功耗实现流程，包括功耗网格（Power Grid）的设计、IR Drop分析的重要性及其修复技术。同时，讲解Sign-off阶段的验证流程，如形式验证（Formal Verification）、LVS（Layout Versus Schematic）和DRC（Design Rule Check）的自动化执行与调试。 3. 高频设计挑战： 对于工作在GHz范围内的设计，信号完整性（Signal Integrity, SI）至关重要。本章将讨论串扰（Crosstalk）、反射（Reflection）对时序的影响，以及如何通过线缆模型（Interconnect Modeling）和布线规则来缓解这些问题。 第四部分：模拟与混合信号接口技术 现代SoC系统需要高性能的模数转换器（ADC）和数模转换器（DAC）来与物理世界交互。本部分专注于这些关键模块的设计细节： 1. 高速ADC架构： 深入剖析流水线（Pipelined）、Sigma-Delta（$SigmaDelta$）以及闪烁（Flash）ADC的内部结构、性能瓶颈和失配（Mismatch）处理技术。重点讨论如何通过数字校准来提高转换精度。 2. PLL与时钟分配网络： 详细阐述锁相环（PLL）的设计，包括环路滤波器（Loop Filter）的设计、相位噪声（Phase Noise）的来源与抑制。书中将提供关于如何设计低抖动（Jitter）的时钟分配网络以确保系统同步性的工程实践。 3. 噪声隔离与地弹： 在高度集成的芯片中，数字部分的噪声很容易耦合到敏感的模拟部分。本书将提供先进的衬底噪声隔离技术（如深N阱、Guard Rings）以及对电源分配网络（PDN）噪声的分析与优化方法。 总结： 《现代集成电路设计与实践：从CMOS到FinFET的演进》是一本面向工程实践和前沿研究的深度技术书籍，它假设读者已经掌握了电子技术的基础理论，并将重点放在了当前芯片设计中最具挑战性和创新性的领域，从纳米级的器件物理到系统级的功耗和时序收敛，提供了详尽的理论模型、设计方法和验证流程。本书不提供任何对基础电子概念的回顾或考试应试技巧的指导。

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这本书的价值，在于它能够帮助那些正在备考电子技术基础考试的同学们，更高效、更系统地掌握考试所需的知识和技能。我曾经在备考过程中，尝试过很多不同的学习方法和资料，但总是感觉效果不尽如人意。直到我发现了这本《电子技术基础考试参考书》，我才找到了正确的方向。这本书最大的亮点在于它“结构清晰”和“重点突出”。作者在编写过程中，非常注重知识点的逻辑性和连贯性，使得读者能够非常顺畅地进行学习。对于每个章节，书中都清晰地列出了本章的学习目标，以及需要掌握的重点和难点，这让我能够有针对性地进行复习，避免走弯路。而且，书中还提供了大量的“模拟试题”和“历年真题解析”，这些题目都经过精选，能够很好地反映考试的真实水平和难度。通过对这些题目的练习和解析，我不仅能够检验自己的学习效果，还能够学习到很多解题技巧和答题策略。我最看重的是，书中对于每一个错题，都进行了详细的分析，能够帮助我找出自己知识上的薄弱环节，并加以巩固。这本书就像一位经验丰富的“考场向导”，在我备考的路上给予了我最及时、最有效的指引，让我能够充满信心地走向考场，并最终取得了理想的成绩。

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这本书真的让我对电子技术产生了一种全新的认识。我之前一直觉得电子技术是非常枯燥和难懂的学科，充满了各种公式和符号，让人望而却步。但是，当我开始阅读这本《电子技术基础考试参考书》后，我惊喜地发现，原来电子技术也可以如此有趣和生动。作者在写作风格上非常轻松活泼，经常会用一些生动形象的比喻来解释抽象的概念，让原本复杂的原理变得易于理解。我记得在讲解“二极管”的伏安特性时，作者用“阀门”的比喻，让我一下子就理解了二极管的单向导电性，这种方式比干巴巴地背诵公式要有效得多。而且，书中的插图设计也非常精美，色彩搭配合理，图形清晰，能够有效地辅助理解。我尤其喜欢书中关于“数电基础”的章节，作者用一种循序渐进的方式，从最基本的逻辑门开始，逐步引导读者进入数字电路的世界，让我不再感到恐惧。这本书给我带来的最大改变，就是让我对学习电子技术产生了浓厚的兴趣。我不再是抱着应付考试的心态去学习，而是真正地被这些奇妙的电子世界所吸引。我已经迫不及待地想要继续深入学习下去，探索更多电子技术的奥秘。

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我是一名已经工作多年的工程师，但因为工作的需要，近期需要重新温习电子技术的基础知识。市面上关于电子技术类的书籍很多，但大多数都过于学术化，或者是偏重于某一特定领域，很难找到一本能够系统梳理基础知识，并且具有一定应试指导意义的书籍。幸运的是，我找到了这本《电子技术基础考试参考书》。这本书的优点在于它的“全面性”和“系统性”。它几乎涵盖了电子技术基础考试中所有重要的知识点，并且按照逻辑顺序进行编排，使得读者能够循序渐进地学习。我特别欣赏书中对“半导体器件”和“放大电路”部分的讲解，作者用一种非常清晰的逻辑，将这些复杂的概念层层剥开，让我能够从最基本的工作原理开始，逐步理解它们的特性和应用。书中对一些关键公式的推导过程也解释得相当到位，这对于我这样的工程师来说，能够帮助我更好地理解公式背后的物理意义，而不是死记硬背。此外，书中还穿插了一些“考点提示”和“高频易错点”，这些内容对于我这样的复习者来说，能够帮助我快速地抓住重点，提高复习效率。总的来说，这本书是一本非常适合用于系统性复习和巩固电子技术基础知识的参考书，能够帮助学习者快速地建立起完整的知识体系。

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这本书简直就是我的救星！作为一个电子技术领域的初学者，我之前面对那些复杂的电路图和抽象的概念时，常常感到一筹莫展。各种资料看得我头昏脑涨，总感觉抓不住重点，考试更是让我焦虑不已。但自从我翻开这本《电子技术基础考试参考书》后，一切都变得不一样了。作者的讲解方式真是太棒了，他总是能把最晦涩难懂的知识点，用最通俗易懂的语言娓娓道来，就像一个经验丰富的老师在耐心教导你一样。书中的图示和实例也恰到好处，让我能够直观地理解那些理论知识是如何在实际中应用的。我最喜欢的是，这本书并没有像很多参考书那样堆砌大量枯燥的公式和定理，而是更侧重于概念的理解和实际的解题思路。每当我在学习过程中遇到瓶颈时，这本书总能及时给我指点迷津，让我茅塞顿开。我尤其要提一下书中关于“基尔霍夫定律”和“戴维南定理”的讲解，之前我一直对这两个概念感到困惑，但在这本书里，我第一次真正理解了它们的原理和应用方法，并且能够熟练地运用它们来解决问题。考试前，我就是靠着这本书反复复习，感觉知识点都牢牢地印在了脑海里，考试时信心倍增，也取得了非常满意的成绩。这本书真的是物超所值，强烈推荐给所有正在学习电子技术的朋友们，相信你们也会和我一样，爱上这本书！

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这本《电子技术基础考试参考书》绝对是我近年来读过的最实用的技术类书籍之一。它精准地抓住了电子技术学习中的核心难点，并且提供了切实可行的解决方案。我之所以这么说，是因为我在学习过程中，经常会遇到一些“似懂非懂”的状态，理论知识记住了，但一旦遇到实际问题，就不知道如何下手。这本书的独特之处在于，它不仅仅是知识的罗列，更注重培养读者的分析和解决问题的能力。书中提供了大量的例题，而且这些例题都非常具有代表性，涵盖了考试中最常出现的题型。更难得的是，对于每一个例题，作者都进行了非常详细的解析，从解题思路的建立，到公式的应用，再到最终结果的计算，每一步都解释得清清楚楚，一点也不含糊。我特别喜欢书中的“误区解析”部分，它能够及时地指出我们学习过程中容易犯的错误，并且给出纠正的方法，这对于巩固知识、避免重复犯错起到了至关重要的作用。通过反复练习书中的例题，我发现自己对电子电路的理解更深入了，解题的准确率也大大提高。每次做完一套练习题，都能清晰地感受到自己的进步。这本书就像一本“武林秘籍”，让我逐渐掌握了电子技术的“内功心法”，考试对我来说也不再是难以逾越的障碍，而是检验学习成果的平台。

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